低溫實驗的目的于用來確定原件、設備或其他產品在低溫環境下使用、運輸和貯存的能力。
高溫實驗的目的于用來確定原件、設備或其他產品在低溫環境下使用、運輸和貯存的能力。
北京儀綜測業科技發展有限公司是一家專業進行各類環境試驗的專業的第三方檢測機構，屬*直屬單位，可以對各類產品進行試驗。
北京電工電子產品高低溫測試
1、低溫試驗：
低溫測試標準：電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007。只做：溫度≥-70℃。
2、高溫試驗：
高溫測試標準：電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 GB/T 2423.2-2008 ，IEC 60068-2-2:2007。只做：溫度≤300℃。
3、恒定濕熱試驗：
濕熱試驗標準：電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T 2423.50-2012，IEC 60068-2-67:1995。只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH
電工電子產品環境試驗 第2部分： 試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001 只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH。
4、交變濕熱試驗：
電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005。只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH。
5、振動試驗：
振動試驗標準：電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fi: 振動 混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005。只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm, 載荷≤3000kg
電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fh：寬帶隨機振動（數字控制）和導則 GB/T 2423.56-2006，IEC 60068-2-64:1993。只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg。
電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc和導則：振動（正弦）GB/T 2423.10-2008，IEC 60068-2-6:1995。只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm, 載荷≤3000kg。
6、溫度變化試驗：
環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。
7、溫度/濕度組合循環試驗：
環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環試驗 GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009。
8、跌落試驗：
電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995，IEC 60068-2-32:1990。
9、機械沖擊試驗：
電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導則:沖擊 GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987。
10、碰撞試驗：
電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ，IEC 60068-2-29:1987
11、傾跌與翻倒：
電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導則:傾跌與翻倒 (主要用于設備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982。
12、砂塵試驗：
電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994 只做：方法La2:恒定氣壓。
13、鹽霧試驗：
環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kb:鹽霧，交變 GB/T 2423.18-2012，IEC 60068-2-52:1996；
人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006；
電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC 60068-2-11:1981。
14、溫度沖擊試驗：
環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。
15、IP防護等級（外殼防護試驗）：
外殼防護等級（IP代碼）：GB 4208-2008，IEC 60529:2001；
電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導則：GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000。
16、低溫/振動(正弦)綜合試驗：
電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983。
17、高溫/振動(正弦)綜合試驗：
電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983。
18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合試驗：
電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合 GB/T 2423.59-2008。
19、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗：
電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合 GB/T 2423.102-2008。
20、可靠性試驗：
設備可靠性試驗 恒定失效率假設下的失效率與平均*時間的驗證試驗方案：GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978；
設備可靠性試驗 恒定失效率假設的有效性檢驗：GB/T 5080.6-1996，IEC 60605-6:1989；
設備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案：GB/T 5080.5-1985，IEC 60605-5:1982；
設備可靠性試驗 可靠性測定試驗的點估計和區間估計方法 (指數分布)：GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978。
可靠性試驗 第2部分：試驗周期設計 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994；
可靠性試驗 第1部分：試驗條件和統計檢驗原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001。
