主要適用于電子、電器、光纖、LED、LCD、晶體、光電、電感、PCB、電腦、電池、手機(jī)、汽車配件等產(chǎn)品或材料做耐高溫、耐低溫、耐溫濕交變循環(huán)或恒定試驗(yàn)。-40到150度的恒溫恒濕試驗(yàn)箱/實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕設(shè)備是指溫度范圍在-40℃至150℃中間可任意設(shè)定其中個(gè)溫度做恒定做試驗(yàn),或者在-40℃至150℃之間的溫度里設(shè)定多個(gè)溫度做來做程序循環(huán)交變?cè)囼?yàn)的恒溫恒濕試驗(yàn)箱。
-40到150度的恒溫恒濕試驗(yàn)箱/實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕設(shè)備滿足及符合如下標(biāo)準(zhǔn)：性能指標(biāo)均符合GB5170、2、5-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB2423.1-2008；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB2423.2-2008；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-2008；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-2008；電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法GB/T 2423.22-2002；GB/T 5170.2-2008《溫度試驗(yàn)設(shè)備》；GB/T 5170.5-2008《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》；GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；GB/T 10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》。
-40到150度的恒溫恒濕試驗(yàn)箱/實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕設(shè)備型號(hào)和尺寸
型號(hào) 溫度范圍 濕度范圍 內(nèi)尺寸（W*H*D） 外箱尺寸（W*H*D）
AP-HX-80A 0~150℃ 20%~98% 400*500*400mm 980*1380*990mm
AP-HX-150B -20~150℃ 20%~~98% 500*600*500mm 1080*1500*1080mm
AP-HX-225C -40~150℃ 20%~~98% 500*750*600mm 1100*1620*1180mm
AP-HX-408D -60~150℃ 20%~~98% 600*850*800mm 1200*1720*1280mm
AP-HX-800D -70~150℃ 20%~~98% 1000*1000*800mm 1560*1860*1350mm
AP-HX-1000D -70~150℃ 20%~~98% 1000*1000*1000mm 1560*1860*1550mm
A:0℃~150 ℃；B:-20℃~150℃；C:-40℃~150℃；D:-60℃~150℃； D:-70℃~150℃；備注以上溫度范圍可很有任意選擇套用在不同的尺寸上做報(bào)價(jià)方案及生產(chǎn)。即不可的尺寸大小也可以套用不同的溫度范圍。
溫度范圍：0℃、-20℃、-40℃、-60℃、-70℃～+100℃(+150℃)
濕度范圍：20%～98%RH
溫度均勻度：≤2℃
溫度波動(dòng)度：≤0.5℃
濕度誤差：+2/-3%RH
升溫速率：≥2-3℃/min
降溫速率：≤1℃/min
-40到150度的恒溫恒濕試驗(yàn)箱/實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)配置:物料架2層,機(jī)體左側(cè)50mm測(cè)試孔1只,附不銹鋼孔蓋1只,濕布2片,硅膠塞頭1只,容絲保險(xiǎn)管2個(gè),活動(dòng)腳輪4個(gè),固定腳杯4個(gè)。
溫度在-40到150度的恒溫恒濕試驗(yàn)箱還有不同規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型和不同溫度范圍可供選擇；還可以根據(jù)客戶需求非標(biāo)定制。
