BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀,熱電材料塞貝克系數測試儀
關鍵詞:熱電材料,Seebeck系數,電阻率, 電導率,V-1裝置
產品介紹:
BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀是我國熱電材料的設備,是國家材料計劃中zui前沿裝備,是我國科研人員幾十年的精心參與和設計出來的熱電材料測試儀,其測試性能遠超越國內外熱電材料測試儀,不僅可以用于塊體材料同時也可以用于薄材料的測試,是目前國內高等院校和
研究所的重要設備。
對于熱電材料的研究,熱電性能測試是*的試驗數據。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數及電導率。主要原理和特點如下:
該裝置由溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫,采用四點法的方式精確測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
一、適用范圍:
1、測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數及電導率、電阻率。
3、塊體和薄膜材料測均可以測試。
4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
5、擁有自身分析軟件,獨立分析,過程自動控制,界面友好。
6、國內高等院校材料系研究或是熱電材料生產單位。
7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領域、熱電制冷.
8、很多其他工業和研究領域-每年都會誕生新的應用領域.
二、技術特點:
·解決高溫下溫控精度不準的問題,靜態法測量更加直觀的了解產品熱電材料的真正表征物理屬性。
溫度檢測可采用J、K型熱電偶,降低測試成本。
·試樣采用*的焊偶機構,保證接觸電阻zui小以及測量結果的高重現性。
每次可測試1-3個樣品.
采用高級數據采集技術,避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差,可控溫場下同步測量賽貝克系數和電阻率。
| BKTEM-D1 | BKTEM-D2 | BKTEM-D3 |
測量溫度 | 室溫-600℃ | 室溫-600℃ | 室溫-600℃ |
同時測試樣品數量 | 1個 | 2個 | 3個 |
控溫精度 | 0.5K(溫度波動:≤±0.1℃) | ||
測量原理 | 塞貝克系數:靜態直流電;電阻系數:四端法 | ||
測量范圍 | 塞貝克系數:0.5μV/K_25V/K;電阻系數:0.2Ohm-2.5KOhm | ||
分辨率 | 塞貝克系數:10nV/K;電阻系數: 10nOhm | ||
測量精度 | 塞貝克系數:<±6%;電阻系數:<±5% | ||
樣品尺寸 | 塊體方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長,薄膜材料:≥50 nm | ||
熱電偶導距 | ≥6 mm | ||
電 流 | 0 to 160 mA | ||
氣 氛 | 減壓He | ||
加熱電極相數/電壓 | 單相,220V, | ||
夾具接觸熱阻 | ≤0.05 m2K/W |
圖1 單一樣品測試系統原理示意圖
圖2 雙樣品測試系統原理示意圖