激光圖像粒度粒形分析儀Bettersize3000plus激光圖像粒度粒形分析儀是一種采用半導體泵浦532納米波長的偏振激光器作為光源的智能化的激光粒度儀，采用單一光學全角度測量的光路系統，散射光探測角度*，具有Z高的分辨率，是公司的技術。同時在激光散射法測量的基礎上結合了動態顆粒圖像測量系統，使粗顆粒端的測量精度更高，同時采用公司的專有技術可以對激光法數據和圖像法數據進行融合，給出結合測試結果，而且圖像法還可以給出粒形上的信息數據，激光法與圖像法結合測量是百特公司在國內的*。該儀器還有一個顯著的特點就是可以進行折射率測量，折射率是激光粒度儀測試中的一個非常重要的參數，正確與否對測量結果的準確性有至關重要的作用，那么公司在Bettersize3000plus儀器的基礎上結合多年的研究成果，開發出具有創造性的折射率測量系統，使儀器的測量結果真實準確性有個可靠的保障。
激光圖像粒度粒形分析儀激光法與圖像法結合技術，折射率測量技術，這兩項技術在世界范圍內也是前沿的技術，所以Bettersize3000plus的性能是世界*的。還具有濃度測量、比表面積推算、比重推算等功能。其它方面具有自動測試、自動對中、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗等特殊功能。采用高性能的進口半導體泵浦激光器，壽命大于25000小時；采用進口的高精度透鏡組，成像清晰，畸變很小，保證了微弱的、各種角度的散射光信號無一漏網。成像系統采用德國高速CCD與高像質遠心鏡頭，使顆粒成像清晰，采用高速的顆粒識別軟件，每分鐘可以分析幾萬到幾十萬的顆粒數目。該儀器具有準確可靠、重復性好、操作簡便、測試速度快等突出特點，是集激光技術、計算機技術、數字圖像技術、光電子技術于一體的新一代高性能的粒度測試儀器，具有世界*水平，可以與國外粒度儀一決高下，特別適合企業、高校、研究院所等實驗室選用。
激光圖像粒度粒形分析儀二、主要技術指標與性能
激光散射系統
| 測試范圍 | 0.01-3500μm | 進樣方式 | 自動循環分散進樣系統 |
| 重復性誤差 | ≤0.5%（國標樣D50偏差） | 準確性誤差 | ≤0.5%（國標樣D50偏差） |
| 雙峰分辨力 | ≥1.65（兩標樣標稱值之比） | 測量原理 | 米氏散射理論 |
| 測量方式 | 全自動測量（SOP） | Z快測量速度 | ≤10秒 |
| 激光光源 | 半導體激光器（10mv/532nm） | 光路系統 | 斜入射雙鏡頭 |
| 露點溫度測量 | 有 | 探測角度 | 0.02-165o |
| 折射率測量范圍 | 1.4-3.6 | 操作系統 | WinXP/Win7/Win8/Win10 |
| 接口方式 | USB2.0或3.0 | 光電探測器 | 96個 |
| 超聲波功率 | 50W | 循環池容積 | 600ml |
| 循環流量 | 3000-8000ml/分鐘 | 體積、重量、電壓 | 820×610×290mm、48kg、AC220V、50/60Hz |
顯微圖像系統
| 圖像分析范圍 | 4-3500μm | 進口高速CCD | 120幀/秒 |
| 遠心成像系統 | 放大倍數20-100倍 | 圖像識別速度 | 10000個顆粒/分鐘 |
| 分析項目 | 粒度分布、Z大粒徑、長徑比、圓形度、徑厚比等 | ||
三、主要應用領域
各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。
各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。
其它粉體：河流泥沙、鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫藥、農藥、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙填料涂料、各種乳濁液等。
四、良好的重復性
穩定有效的分散系統。
激光器、探測器、信號傳輸系統穩定可靠。
自動對中系統使儀器始終保持在佳狀態。
采樣速度達3500次/秒，大量數據有效減少少數異常數據對重復性的影響。
