奧林巴斯日本45MG測厚儀全國*

45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機的創新型儀器，可用于幾乎所有測厚應用。

45MG儀器在使用基本配置時，是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀，操作人員經過zui基本的培訓，就可完成zui常用的測厚應用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，就會變成一款極為高級的測厚儀，可以進行典型的初級儀器不能完成的應用。此外，大多數選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。

45MG超聲波測厚儀測量詳細介紹：    
雙晶探頭測量模式    從激勵脈沖后的精確延遲到*個回波之間的時間間隔。
自動回波到回波（可選）    在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測量 （可選）    利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭）
單晶探頭測量模式（可選）    模式1：激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。 
模式2：延遲塊回波與*個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭） 
模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。
厚度范圍    0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量zui全的范圍需要使用單晶選項）
材料聲速范圍    0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）
分辨率（可選擇）    低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 
標準分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 
單晶選項：0.001毫米（0.0001英寸）
探頭頻率范圍    標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）

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