WA831瓷瓶探傷測試儀  武漢三高興達電氣設備有限公司

WA831瓷瓶探傷測試儀參數：

檢測范圍：0～9999mm

聲速范圍：1000～9999m/s

增益范圍：0dB～110dB

顯示延遲：-20µs～+3400µs

探頭零偏：0µs～99.99µs

工作頻率：0.5～15MHz

探頭阻尼：100Ω、150Ω、200Ω、500Ω

電源電壓：DC:7.2V;  AC:220V

尺寸：220×175×59（mm）

重量：1.3 kg （含電池）

特點：

1、超探儀產品是全數字式超聲波瓷瓶探傷儀，高速度、高精度、高效率、可靠性高、綜合性能好、實時操作。采用*技術，現場性能。大容量電子硬盤，可*性保存。

2、大容量波形存儲，可波形調用。

3、高速、長時間探傷過程錄像。

4、全中文顯示，菜單式操作，多個快捷鍵，數碼飛梭旋鈕。操作便捷，技術。

5、真彩色液晶顯示屏，可根據環境選擇儀器配色方案，屏幕亮度可自由設定。

發射脈沖：

1、脈沖幅度和寬度可調，使探頭工作在佳狀態。

2、阻抗匹配可選，滿足靈敏度及分辨率的不同工作要求。

3、四種工作方式：直探頭，斜探頭，雙晶，透射探傷。

放大接收：

實時采樣：高速ADC，充分顯示波形細節。

檢波方式：全波、正半波、負半波、射頻。

閘    門：雙閘門讀數，支持時間閘門與聲程閘門。

增    益：0-110dB多級步距可調。可分別調節基本增益、掃查增益、表面補償，方便探傷設置。支持增益鎖定，支持自動增益。

報警類型：

閘門進波、閘門失波、曲線進波、曲線失波4種類型可選

數據存儲：

設有存儲快捷鍵，便于操作。可存儲10個探傷通道；100個波形存儲；10段5分鐘錄像。可快速另存、調用、回放與刪除。

探傷功能：

波峰記憶：實時檢索缺陷高波，記錄缺陷大值

回波包絡：對缺陷回波進行波峰軌跡描繪，輔助對缺陷定性判斷。

B型掃描：實時掃查、橫截面顯示，可顯示工件缺陷形狀，使探測結果更直觀。

DAC、AVG：直/斜探頭鍛件探傷找準缺陷高波自動計算Φ值，可分段制作。

動態記錄：快捷檢測實時動態記錄波形，存儲、回放。

缺陷定位：水平值L、深度值H、聲程值S。

缺陷定量：根據設定基準靈活顯示。

缺陷定性：通過包絡波形，人工經驗判斷。

實時時鐘記錄：

日期、時間跟蹤記錄，并存儲。

通訊接口：

高速USB接口提供傳輸。

屏幕保護：

待機時，儀器屏幕會降低亮度或自動關閉，可使儀器省電，延長使用壽命