工作原理：
X射線膜厚儀、鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來，根據射線強度，來測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞，所以也算是無損檢測。
應用領域：
可主用于電鍍及表面處理廠家或是電子電器企業需要用到電鍍的廠家，如PCB、電子元件、衛浴等生產廠家等。
優勢：
1.下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。
2.無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm。
3.微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。
4.高效率的接收器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。
5.精密微型滑軌：電腦定位操作，快速精準定位樣品。
6.EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
7.膜厚檢測速度：不同鍍種各有區別，從10S-60S,可以根據客戶測試需求，自行修改。
規格：
1.外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm (長x寬x高)
2.樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm (長x寬x高)
3.儀器重量 ：90kg
4.供電電源 ：交流220±5V
5.zui大功率 ：330W
6.環境溫度：15℃-30℃
7.環境相對濕度：<70%
