100x尼康 CF IC Epi Plan 鏡頭
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公司：famouset(譽榮電子)
產(chǎn)品說明：
適合非接觸光學壓型
可選Michelson 和 Mirau 鏡頭
200mm鏡筒遠場校正設計
干涉測量鏡頭可用在非接觸光學壓型測量設備上，通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數(shù)等。也可用來檢測表面粗糙度，測量精度非常高，在一個波長之內(nèi)。一束光通過分光鏡，可將光直接射向樣品表面和內(nèi)置反光鏡。從樣品表面反射的光線通過再結(jié)合，就產(chǎn)生了干涉圖案。與Mirau鏡頭比起來，Michelson鏡頭擁有更長的工作距離，更寬的視場和更大的焦深。Mirau鏡頭用在需要高倍率和/或大數(shù)值孔徑的場合。采用Nikon 200mm鏡筒(#58-520)的話可將鏡頭直接裝配到C接口相機上。
100x尼康 CF IC Epi Plan 干涉測量物鏡
品名型號 | 100x尼康 CF IC Epi Plan 鏡頭 | 產(chǎn)品號 | 62-788 |
放大率 | 100X | 數(shù)字孔徑(NA) | 0.70 |
焦深(μm) | 0.56 | 視場, 1/2" 傳感器 | 0.08 x 0.06mm |
視場, 2/3" 傳感器 | 0.011 x 0.08mm | 視場，20直徑視場目鏡 (mm) | 0.2 |
視場，25直徑視場目鏡 (mm) | 0.25 | 焦距 | 2.0 |
生產(chǎn)商 | Nikon | 安裝螺紋 | RMS |
分辨能力 (μm) | 0.4 | 類型 | Mirau |
重量 (g) | 200.00 | 工作距離WD (mm) | 2.0 |
用于三維表面形貌儀，表面輪廓儀，白光干涉顯微鏡等測量設備的鏡頭。
適用型號：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型號，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等幾乎所有的白光干涉原理非接觸式表面三維形貌測量儀。
根據(jù)不*統(tǒng)計，市場上在售的白光干涉型非接觸形貌/輪廓測量設備，90%使用的是nikon原裝干涉物鏡。市場的幾大重要廠家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon鏡頭。
包含多型號：
2.5xNikon干涉鏡頭
5xNikon干涉物鏡
10xNikon白光干涉鏡頭
20xNikon非接觸干涉鏡頭
50xNikon相干測量物鏡
100x尼康 CF IC Epi Plan 鏡頭
價格隨時有波動。
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