HSCA-2000 總硫分析儀
本分析儀用于測定石油產品和液體有機化工品中的微量硫含量，包括汽油、石腦油、煤油和柴油，甲醇，苯，酯，酮，醚等。該分析儀可應用于石油產品加工及調合過程中過程控制和產品質量控制，測量指標滿足車用燃料的國IV和國V中關于總硫檢驗的要求。
HSCA-2000 總硫分析儀本分析儀用于測定石油產品和液體有機化工品中的微量硫含量，包括汽油、石腦油、煤油和柴油，甲醇，苯，酯，酮，醚等。該分析儀可應用于石油產品加工及調合過程中過程控制和產品質量控制，測量指標滿足車用燃料的國IV和國V中關于總硫檢驗的要求。
HSCA-2000 總硫分析儀
測量原理：能量色散法 X-射線熒光法（EDXRF）
X-射線熒光是由于原子內層軌道電子受到高能X-射線激發而產生的一種現象。當X射線激發原子的內層電子，使電子從內層逸出并在內層電子軌道產生空穴，這時原子會自于不穩定的高能狀態。外層軌道的電子會向內層的空穴遷移，遷移過程中會釋放出能量，即產生X-射線熒光現象。所產生的X-熒光的能量，與原子結構有關，對于特定的元素原子，采用特定能量的X-射線激發，會產生特征的X-熒光。對于硫原子，其K層電子被激發而逸出，其L 層電子遷移到K 層，這個特定的X-射線熒光的能量主要是S-Kα線，其能量為2.31keV，少量的是S-Kβ線，其能量為2.46keV。
與硫原子相近的元素原子的 X-射線熒光的能量列于下表：
元素 能量keV（千電子伏特）
硫， S-Kα 2.31
氬， Ar-Kα 2.96
鈦， Ti-Kα 4.51
鐵， Fe-Kα 6.40
由于特征X-射線熒光的強度與樣品中硫原子的數量成正比，這樣通過測定樣品的X-射線熒光，就可以直接檢測出樣品中的硫含量。
應用：
石油產品精制 石油加工工藝研究
●加氫裂化 ●脫硫催化劑評定
●加氫精制 ●新工藝開發
●油品調合 ●油品評價
●油品脫硫 ●油品質量管理
