分立器件測試儀MOSFET動態參數測試
用于測試器件級的 Diode,IGBT,MOSFET動態交流參數
1200V/100A,短路電流2500A
替代ITC57300,多項功能及指標優于ITC57300
歡迎垂詢:Tel:173 -4295 -2894
? 技術規格
基礎能力 |
|
物理規格 |
|
ST-AC1200_S_R 開關時間(阻性)測試單元 美軍標750 方法為3472 |
|
ST-AC1200_D 反向恢復特性測試單元 美軍標750 方法3473 |
|
ST-AC1200_Q 柵電荷測試單元 美軍標750, 方法3471 |
|
ST-AC1200_S_L 開關時間(感性)測試單元 美軍標750, 方法3477 |
|
ST-AC1200_S 短路特性測試單元 美軍標750, 方法3479 |
|
ST-AC1200_RC 柵電阻結電容測試單元 JEDEC Std JESD24-11 |
|
電網環境 |
|
主要用于測試二極管、IGBT、MOS動態特性參數,產品功能指標對標ITC57300,對標資料如下。
資料說明:
對比內容:半導體分立器件動態參數測試系統
對比廠商:美國ITC公司(下文簡稱ITC)、西安天光測控技術有限公司(下文簡稱西安天光)
對比型號:ITC/ITC57300、西安天光/ST-AC1200_X
MOSFET動態參數測試儀 以ITC57300作為參考標準,西安天光的產品資料中“藍色字體”為西安天光的減分項(指標低于ITC57300),“紅色字體”為西安天光的加分項(指標高于ITC57300),“黑色字體”表示雙方指標*。
美國ITC公司 ITC57300 | 西安天光測控技術有限公司 ST-AC1200_X | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
其它測試功能(加分項)
|
產品系列
晶體管圖示儀
半導體分立器件測試篩選系統
靜態參數(包括 IGEs / VGE(th) / VCEsat / VF / ICEs / VCEs等)
動態參數(包括 Turn_ON&OFF_L / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA等)
環境老化(包括 HTRB / HTGB / H3TRB / Surge等)
熱特性(包括 PC / TC / Rth / Zth / Kcurve等)
可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / MOSFETs / DIODEs / BJTs / SCRs等功率器件