P-7 臺階儀
它保持了P-17技術的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了*的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接。
P-7 臺階儀P-7支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產和研發環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接。
產品描述P-7 臺階儀
P-7建立在市場*的P-17臺式探針輪廓分析系統的成功基礎之上。 它保持了P-17技術的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了*的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接。
主要功能
· 臺階高度：幾納米至1000μm
· 微力恒力控制：0.03至50mg
· 樣品全直徑掃描，無需圖像拼接
· 視頻：500萬像素高分辨率彩色攝像機
· 圓弧校正：消除由于探針的弧形運動引起的誤差
· 軟件：簡單易用的軟件界面
· 生產能力：通過測序，模式識別和SECS / GEM實現全自動化
主要應用
· 臺階高度：2D和3D臺階高度
· 紋理：2D和3D粗糙度和波紋度
· 形狀：2D和3D翹曲和形狀
· 應力：2D和3D薄膜應力
· 缺陷復檢：2D和3D缺陷表面形貌
工業應用
· 大學、研究實驗室和研究所
· 半導體和化合物半導體
· LED：發光二極管
· 太陽能
· MEMS：微機電系統
· 數據存儲
· 汽車
· 醫療設備
· 還有更多：請與我們聯系以滿足您的要求
