產品介紹：X熒光測厚儀

熒光X射線測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLinkFP應用軟件包，實現了對cmi900/950主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定多5層、15種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求。

儀器規格：X熒光測厚儀

1X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
X射線管功率可編程控制
裝備有安全防射線光閘

2濾光片程控交換系統根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創探測器窗口

3準直器程控交換系統多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制
多種規格尺寸準直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，小測量斑點尺寸為：0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時，大測量斑點尺寸為：0.38x0.42mm(使用0.3mm準直器)

5X射線探測系統封氣正比計數器
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路

6樣品室CMI900CMI950
－樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室
－大樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm
－XY軸程控移動范圍標準：152.4x177.8mm
任選：50.8mmx152.4mm
50.4mmx177.8mm
101.6x177.8mm
177.8x177.8mm
610mmx610mm300mmx300mm
－Z軸程控移動高度43.18mmXYZ程控時，152.4mm
XY軸手動時，269.2mm