產品簡介大型多站全自動比表面及孔隙度分析儀

的ASAP 2420-4系統是專為高效能、高樣品通量的用戶而設計。配有4個獨立的分析站，一個樣品分析結束后立即開始新的樣品分析，無需同時準備或者分析所有的樣品。 ASAP 2420-4標配的全自動程序化樣品制備模塊，帶有8個獨立的脫氣站。

技術特點大型多站全自動比表面及孔隙度分析儀

• BET比表面積分析，4個樣品平行運行， 30分鐘內即可完成分析

• 大容量杜瓦瓶允許長時間分析，是獲得高分辨率的吸附/脫附等溫線的必要條件

• 可選擇氪氣作為吸附介質來進行總比表面積和微孔的測試低壓進氣和平衡模式，微孔選件允許獨立的4個分析站同時進行微孔分析

• 可升級為6分析站、12制備站的型號

• 可選滿足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的軟件。 IQ和OQ認證服務，確保該系統的準確性，可靠性和*性。這些服務保障了分析記錄的完整性

• 儀器配置了液氮液面保持裝置---液氮等溫夾，以確保整個分析過程中等溫夾套以下的溫度恒定

• 儀器配備有兩套真空系統,既脫氣系統和分析系統相互獨立，各自有一套獨立的雙級機械泵(可加裝高真空系統),提高了測試效率，真正做到分析與脫氣的同時進行。避免了由一套真空系統而帶來的污染問題

• 配備了大容量杜瓦瓶，結合的液氮等溫夾，保證至少60小時無人介入操作。大無上限的連續分析

• 儀器軟件包含了目前所有的數據處理方法:

單點和多點BET比表面積, Langmuir比表面積

Temkin and Freundlich等溫線分析

多種厚度層公示計算的BJH中孔和大孔的孔體積、孔面積對孔徑的分布

孔體積和用戶孔徑范圍內的總孔體積

MP法的微孔孔徑分布和t-plots、αs-plots得到的微孔總孔體積

f-Ratio plots，D-R，D-A

H-K法(包括Cheng&Yang校正，Saito & Foley校正)

DFT密度函數理論，包括NLDFT等

• 儀器配置了*的樣品管密封單向閥，避免了樣品管在從脫氣站到分析站轉移過程中的二次污染

• 真正的全自動儀器，儀器面板無任何手動按鍵，所有的操作程序均由計算機來控制

• 儀器選配高真空單元后可進行低比表面測試和氬氣的微孔分析功能

產品應用

適用于各種材料的研究與產品測試，包括測量沸石、碳材料、分子篩、二氧化硅、氧化鋁、土壤、黏土、有機金屬化合物骨架結構等各種材料。