WPA-KAMAKIRI應力測試儀
其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片完美結合，研制在線雙折射/殘余應力測量儀，世界上僅有KAMAKIRI可以提供，廣泛應用于光學薄膜，PVA,PC,COP和TAC等領域。
WPA-KAMAKIRI應力測試儀 Photron集團公司是日本大型相機，視頻，軟件控制供應商，其旗下的高速/超高速攝像機業務應用非常廣泛，歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應力測量設備，其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片完美結合，研制在線雙折射/殘余應力測量儀，世界上僅有KAMAKIRI可以提供，廣泛應用于光學薄膜，PVA,PC,COP和TAC等領域。
WPA-KAMAKIRI應力測試儀
主要特點：
- 可用來評估高相位差產品，PET薄膜和樹脂成品
- 三波長測定雙折射范圍可達3000nm
- 可選配高相位差配件，滿足10000nm的超過相位差測定需求
應用領域：
- 相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
- 保護薄膜（PET/PEN/PS/PI）
- 樹脂成型
- 玻璃
主要參數：
項次 | 項目 | 具體參數 |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】 |
2 | 測量波長 | 523nm、543nm、575nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-3000nm |
4 | 主軸方位范圍 | 0-180° |
5 | 測量重復精度 | <1nm |
6 | 測量尺寸 | 97×77mm ～ 2900×2310mm |
7 | 定制選項 | 光學配件，可測量超過10000nm的高相位差 |
