DAGE Quadra 3 X光檢查機
Quadra 3 可用于高放大倍率下的高質量X射線檢測，實現各類生產應用的質量控制。可檢測各種制造缺陷 ， 包括BGA、QFN和IGBT焊接，PTH填充，界面空洞，元器件開裂和偽造產品。
清晰而易于識別的圖像可快速顯示缺陷。Nordson DAGE的 Aspire FP 探測器由自主設計和制造，專用于電子樣品檢測。
Quadra 3 規格參數
QuadraNT X 射線管
類型：密封式透射管
特征分辨率：0.95微米
蕞大功率：10瓦
電壓：30-160千伏
Aspire FP 探測器
分辨率：140萬像素
幀率：10 幀/秒
像素點間距：75 微米
數字圖像處理：16比特
檢測
傾斜視角圖：2 × 70 - 無需旋轉樣品
減振系統：被動
顯示分辨率：94像素/英寸
檢測區：510 x 445 毫米 (20 x 17.5 英寸)
幾何放大倍率：2000 倍
總放大倍率：7500 倍
樣本重量(標準盤)：5千克(11磅)
顯示器：單，24寸，寬屏擴展圖形陣列，分辨率為 1920 x 1200
系統
尺寸： 1570(寬) x 1500(深) x 1900(高)毫米
系統重量：1950千克 (4300磅)
電源：單相200-230伏(交流)，50/60赫茲，16安
典型耗電量：1千瓦
運行溫度：10-30oC
濕度：<85％(非冷凝)
操作系統：Windows 10 64位
X射線安全性：X射線泄漏量小于 1μSv/hr
