金禾平面度測量儀 編號：JH-H28

JH-28平面凹度測量儀是一款簡易測量炊具器皿底部凹度的理想工具，能快速測量被測產品的中心凹度，通過百分表數字變化觀察底部輪廓變化，滾動側頭測量誤差小，數據可靠，對測量表面要求低，復底鍋、不規則起伏面都能很好的應用，對產品質量控制及工藝改進提供有效數據，廣泛用于炊具生產企業實驗室及測試機構實驗室。

測試范圍≤240mm

測試誤差≤0.02mm

讀數誤差0.01mm

重復精度≤0.02mm

1.使用前請在測量平臺校準；

2.根據鍋底尺寸大小調整滑塊位置，具體方法是，測量儀右側兩點定位腳靠在鍋底一側，接著移動測量儀右側滑塊使其下方單點定位腳靠在鍋底的另一側。

3.固定完成讀出左側滑塊所在位置，即是鍋底的直徑，百分表按ZERO清零，接著滑動右側滑塊過半徑即可測出鍋底zui大凹度值，及凹度變化。

4.自動記錄凹度zui大值，在百分表正常開機情況下校準零位后按R鍵2次，此時百分表顯示器下方顯示向右箭頭，百分表會在滑動的過程中記錄凹度zui大值；重測測量需要按C鍵。

平面度誤差評定方法

常用的有：三點法、對角線法、zui小區域法。評定平板平面度誤差的基本原則 平板平面度誤差是指平板加工后的實際表面和理論上的理想平面之間的差值。平板平面度誤差的檢定，是通過被測實際表面與理想表面相比較來進行的。而理想平面相對于實際表面的位置，將影響平板平面度誤差的檢定結果。為此規定在評定平面度誤差時，理想平面的位置按zui小條件來確定。 zui小條件是指：在確定理想平面位置時，應使該理想平面與實際表面相接觸，并使兩者之間的zui大距離為zui小。 對于被測實際表面平面度的評定，可做很多個理想平面。比如三個理想平面I-I、I-II、III-III,放在實際表面的不同位置上。每個理想平面到實際表面的zui大距離分別為1、2和3，選其距離zui小值者，因1小于2小于3，所以位置I-I是符合zui小條件的理想平面，獲得的平面 度誤差值是wei一的，即zui大距離為zui小的只有一個，這樣規定就不會因評定基準的位置不統一而帶來測量誤差。 按zui小條件評定，排除了評定基準帶來的誤差，更如實地反映了被測平板的平面度誤差，所評定的誤差值為zui小，有利于zui大限度地保證平板平面度的合格性。評定結果的wei一性，避免了發生爭執，所以說zui小條件是評定平板平面度誤差的基本原則。