ZJD-C陶瓷玻璃介電常數測試儀系統由S916測試裝置（夾具）、ZJD-B/C型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入ZJD-B或ZJD-C的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。陶瓷玻璃介電常數測試儀提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。使用ZJD-B或ZJD-C數字Q表具有自動計算介電常數（ε）和介質損耗（tanδ）。
ZJD-C介電常數/介質損耗測試系統系統組成：
1.主機：ZJD-B/C 高頻Q表
功能名稱： | ZJD-B | ZJD-A | ZJD-C |
信號源范圍DDS數字合成信號 | 10KHZ-70MHz | 10KHZ-110MHz
| 100KHZ-160MHz |
信號源頻率覆蓋比 | 7000:1 | 11000:1 | 16000:1 |
信號源頻率精度 6位有效數 | 3×10-5 ±1個字 | 3×10-5 ±1個字 | 3×10-5 ±1個字 |
Q測量范圍 | 1-1000自動/手動量程 | 1-1000自動/手動量程 | 1-1000自動/手動量程 |
Q分辨率 | 4位有效數,分辨率0.1 | 4位有效數,分辨率0.1 | 4位有效數,分辨率0.1 |
Q測量工作誤差 | <5% | <5% | <5% |
電感測量范圍 4位有效數,分辨率0.1nH | 1nH-8.4H , 分辨率0.1nH | 1nH-8.4H 分辨率0.1nH | 1nH-140mH分辨率0.1nH |
電感測量誤差 | <5% | <5% | <5% |
調諧電容 | 主電容30-540pF | 主電容30-540pF | 主電容17-240pF |
電容直接測量范圍 | 1pF～2.5uF | 1pF～2.5uF | 1pF～25nF |
調諧電容誤差 分辨率 | ±1 pF或<1% 0.1pF | ±1 pF或<1% 0.1pF | ±1 pF或<1% 0.1pF |
諧振點搜索 | 自動掃描 | 自動掃描 | 自動掃描 |
Q合格預置范圍 | 5-1000聲光提示 | 5-1000聲光提示 | 5-1000聲光提示 |
Q量程切換 | 自動/手動 | 自動/手動 | 自動/手動 |
LCD顯示參數 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 |
自身殘余電感和測試引線電感的 | 有 | 有 | 有 |
大電容值直接測量顯示功能(*) | 測量值可達2.5uF | 測量值可達2.5uF | 測量值可達25nF |
介質損耗系數 | 精度 萬分之五 | 精度 萬分之五 | 精度 萬分之五 |
2.S916（數顯）或S914介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置：
固體：材料測量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選；厚度可調 ≥ 15mm （二選一）
液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）
3.LKI-1電感組
電感No | 電感量 | 準確度% | Q值≥ | 分布電容約略值 | 諧振頻率范圍 MHz | 適合介電常數測試頻率 | |
ZJD-B | ZJC-C | ||||||
1 | 0.1μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 20~70 | 31~103 | 50MHz |
2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 10~37 | 14.8~46.6 | 15MHz |
3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 6.8~21.4 | 10MHz |
4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 3.4~10.55 | 5MHz |
5 | 50μH | ±5% | 200 | 6pF | 1~3.75 | 1.5~4.55 | 1.5MHz |
6 | 100μH | ±5% | 200 | 6pF | 0.75~2.64 | 1.06~3.20 | 1MHz |
7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.34~1.02 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.148~0.39 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ±5% | 90 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.107~0.32 | 0.1MHz |
注意: 可定制100MHz電感.
附件：在高溫下測試介電常數
在高溫下測試材料的介電常數需要有高溫測試平臺,以及特殊的耐高溫測試夾具.再配合上Q表主機,以完成在高溫下測試材料的介電常數.
測試方法:把材料放在測試夾具的極片內上下夾住,然后把測試夾具放在高溫測試平臺內,通過引線連接測試夾具的信號輸出段與Q表主機的電容接線柱.以此使Q表諧振,等到數據.
一、高溫測試平臺參數
帶升降高溫測試平臺是為高溫材料電性能測試專門設計的高溫環境。包括高溫實驗電爐、溫度控制器、升降裝置、溫度傳感器、石英玻璃杯、箱體等部件。
溫度范圍 RT1000℃ (根據不同型號,溫度不同)
探針數量 4
控溫方式恒溫、變溫、
頻率范圍DC~50MHz
二、高溫測試夾具參數
精密高溫介電夾具是嚴格依據A S T M 1 5 0標準要求， 并針對高溫環境進行設計， 用于精確測量材料的介電性能。由上電極調節裝置、調節支撐架、樣品平臺、隔熱層、接線盒組成
溫度范圍 RT~600℃~1000℃(根據不同型號,溫度不同)
校準頻率 DC~30MHz
測試電極 2個測試電極+保護電極
電極直徑 26.8mm
樣品大小 厚度小于10 mm，直徑5~40mm
終端連接 4*SMA母頭
微調行程 10mm
外形尺寸 W180mm*H270mm*D300mm
重 量 4KG
