Naneos Partector TEM納米粒子顆粒采樣器是簡單性與強大功能之間的完美結合：您可以將其用作簡單的調查工具，以快速識別工作場所中的納米顆粒來源。您也可以使用它直接將顆粒采樣到標準透射電子顯微鏡（TEM）網格中。當涉及單顆粒分析時，TEM是強大的分析技術。如果您擁有諸如TEM / SEM顯微鏡之類的輔助工具以進一步查看粒度分布和顆粒形態以及/或用于分析被顆粒化學成分的分析儀器，那么Partector TEM將發揮大的作用。

Naneos Partector TEM納米粒子顆粒采樣器?可讓您使用一臺儀器全面評估工作場所安全。Partector TEM采樣器是*可以在線確定樣品覆蓋率并在達到Z佳覆蓋率時停止采樣的納米顆粒采樣器。它是一種綜合測量，允許首*行測量，然后僅在必要時進行采樣。由于TEM沉積機制是由檢測到的濃度控制和監視的，因此您再也不會有空的或超載的樣品。利用Goog個  Earth Java工具，它可以顯示在哪里測量濃度。

特點：

• LDSA濃度范圍：0-20,000 µm² /cm³
• 1秒的高時間分辨率（根據要求更快）
• 粒徑范圍廣，從10 nm到10 µm
• 設備尺寸：142x78x2??9mm-可以放入典型的襯衫口袋
• 重量：430克
• 流量：0.45 lpm
• 在標準3.05mm TEM網格上靜電沉積顆粒
• 采樣效率：50nm時約為3％
• 6個可更換網格架
• 自動確定觜佳采樣時間，當網格具有觜佳覆蓋范圍時，設備停止采樣
• 內部可充電鋰離子電池，運行時間通常為10小時
• 數據存儲在µSD卡上（足夠用于多年數據存儲）
• 圖形顯示
• 高濃度警報，閾值可調
• 包括可在所有主要操作系統上運行的Java數據分析工具 

優勢：

• 微型輕巧
• 易于使用的按鈕采樣
• TEM網格可通過6個網格支架輕松在現場更換
• 自動確定Z 佳采樣時間-因為它可以測量納米顆粒的濃度，所以它知道何時停止采樣。
• 在線顯示當前樣本覆蓋率
• 谷個Earth Java工具可顯示在何處測量濃度

應用：

• 氣溶膠研究
• 過濾器測試
• 環境與氣候研究
• 環境監控
• 室內和工作場所空氣質量測量
• 個人曝光