GTL高精密度板件高頻雙面探針臺
(一) 設備與工作原理說明
GTL是專門為高性能、高速與高頻基板設計的量測平臺,除了提供一般基板量測時所需要的基本點針的需要之外,更采用了GTL多年在信號完整性(Signal Integrity)量測上的經驗與獨自開發出來在高性能基板量測時所需要的特別功能整合而成。
GTL提供許多專門為信號完整性量測而設計的功能,例如:可適應各種大小尺寸的基板、可同時做機板雙面量測與校準、遙控針座定位等,都是目前設計生產能達到化高性能基板所需要的設備能力,且目前國內生產的設備并不具有這些功能。
(二) 設備及配件的圖片
除了機臺本體機械上的設計須達到各項高性能基板量測的要求,例如板件的固定、下針(X-Y-Z-Planarization)的調整與定位、旋轉、穩定、便于觀察等,GTL5050系統也整合了特別為高性能基板量測所需要的配件:
高精密度可調整高頻針座:含X-Y-Z與平面度調整
遠程控制馬達帶動高頻針座:含整合式的攝像頭與光學配件,含遠程控制器
高頻探針頭與校準片
(三) 設備的特性
l GTL的一般特性如下
l 直立式雙面板件探針臺
l 可測大到20” x 30”的待測板件
l 適用于多種測試結構
l 可安裝多至8個高頻針座
l 固定穩固的針座底座
l 可移動平臺含位置鎖定裝置
l 遠程搖桿控制針座
l 整合式攝像頭,易于觀察與點針
l 整合式上方觀察用顯微鏡,顯微鏡光源系統
l 高分辨率彩色攝向系統
(四) 設備的主要功能
適用于各式高性能基板的設計、建模、偵錯、量測、品管等?