JIMA（日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)），致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡
- 測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
- 盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm
- 芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm
圖案布局：T型
線/空間尺寸：32種規(guī)格圖案,
JIMA RT CT-01分辨率測(cè)試卡（于三維CT系統(tǒng)分辨率測(cè)試）
- 測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
- 圖案布局：T型
- 線/空間尺寸：5種規(guī)格圖案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm
JIMA RT RC-02分辨率測(cè)試卡
- 測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
- 盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm
- 芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm
- 圖案布局：L型
- 線/空間尺寸： 16種規(guī)格圖案,
JIMA RT RC-05分辨率測(cè)試卡
- 測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
- 盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
- 芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
- 圖案布局：T型 （3-10μm）
- I 型 （15-50μm）
- 線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案,
