X熒光貴金屬檢測(cè)儀

　　型號(hào)：EDX3000PLUS

　　產(chǎn)品說(shuō)明、技術(shù)參數(shù)及配置

　　天瑞新型X熒光貴金屬檢測(cè)儀 EDX 3000 PLUS 在測(cè)量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨(dú)到。采用25mm2大面積鈹窗探測(cè)器，可準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量，測(cè)試結(jié)果*符合國(guó)標(biāo)GB/T 18043-2000要求。

　　黃金貴重，儀器貴精。EDX 3000 PLUS閃耀的亮點(diǎn)在于超高精確度、超高分辨率、更清晰的攝像頭、一鍵式智能操作，一切讓貴金屬檢測(cè)如此簡(jiǎn)單!

　　性能優(yōu)勢(shì)

　　超高分辨率：

　　采用SDD硅漂移探測(cè)器 ，分辨率為139±5ev ，而常規(guī)的Si-PIN探測(cè)器，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測(cè)鉑金中銥和金的含量。

　　超高精確度，性能優(yōu)：

　　使用25mm2大面積鈹窗探測(cè)器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術(shù)，提高分析速度，總體提高系統(tǒng)處理能力，計(jì)數(shù)率大可達(dá)8萬(wàn)，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。

　　超清晰攝像頭，精確定位：

　　采用新型工業(yè)級(jí)相機(jī)，樣品圖像更加清晰，輕松實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)定位。

　　小準(zhǔn)直器，輕松實(shí)現(xiàn)精小部位測(cè)試：

　　提供多種準(zhǔn)直器，直徑小達(dá)0.2mm，可輕松實(shí)現(xiàn)精小部位的精確測(cè)試，同時(shí)可根據(jù)測(cè)試需求電動(dòng)切換準(zhǔn)直器，使測(cè)量更加輕松更加準(zhǔn)確。

　　一鍵式智能式操作，省去選曲線煩惱：

　　FP法的完整使用，只需一鍵操作即可智能化自動(dòng)匹配曲線，操作一步到位。

　　技術(shù)參數(shù)

　　元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)

　　分析檢出限可達(dá)ppm級(jí)

　　分析含量一般為ppm到99.99%

　　任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型

　　相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

　　多變量非線性回歸程序

　　溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃

　　電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

　　能量分辨率：139±5eV

　　儀器配置

　　移動(dòng)樣品平臺(tái)

　　SDD探測(cè)器

　　數(shù)字多道分析系統(tǒng)

　　高低壓電源

　　大功率X光管

　　計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

　　外觀尺寸： 550×416×333mm

　　樣品腔尺寸：460×298×98mm

　　質(zhì)量：45Kg

　　應(yīng)用領(lǐng)域

　　黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)