東莞穩(wěn)科WK3260B精密磁性元件分析儀詳細說明
型號/規(guī)格3260B
生產(chǎn)廠商Wayne Kerr Electronics
主要技術(shù)指標測試參數(shù)：L、Z、Rdc、C、Q、D、Rac、θ、漏電感、圈數(shù)比、層間電容
頻率范圍：20Hz~3MHz
基本精度：0.1%
儀器內(nèi)阻：50Ω
測試電壓/電流：1mV~10Vrms；50?A~200mArms
備注： 如有需要請萊電咨.詢
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東莞穩(wěn)科WK3260B精密磁性元件分析儀高電流直流偏壓源
產(chǎn)品參數(shù) 適用范圍 說明 產(chǎn)品描述 參數(shù)配置
頻率范圍 (20Hz - 3MHz)
0.1% 基本量測精.確度
DC Bias(直流偏壓) 高可到12(Option)
內(nèi)建1Amp DC Bias
多頻率自動測試模式
多點DC Bias掃頻功能
可直接畫出加上Bias時各參數(shù)之曲線圖.具掃頻功能
可接Mesco view, Factory view軟件
涵蓋各式測量參數(shù) - 包含 Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(質(zhì)量因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻) 及 圈數(shù)比
可透過IEEE488連線控制
高電流直流偏壓源
東莞穩(wěn)科WK3260B精密磁性元件分析儀基本參數(shù)
測量頻率范圍： | 20Hz~3MHz Hz 同參數(shù)產(chǎn)品 |
測量速度： | 40 ms 同參數(shù)產(chǎn)品 |
測量準確度： | 0.1 % 同參數(shù)產(chǎn)品 |
環(huán)境溫度范圍： | -40~70 ℃ 同參數(shù)產(chǎn)品 |
類型： | 高速LCR測量儀 同參數(shù)產(chǎn)品 |
輸出阻抗： | 2G Ω 同參數(shù)產(chǎn)品 |
顯示方式： | 數(shù)字式 同參數(shù)產(chǎn)品 |
結(jié)構(gòu)型式： | 便攜式 同參數(shù)產(chǎn)品 |
品牌： | WayneKerr 同參數(shù)產(chǎn)品 |
型號： | WK3260B 同參數(shù)產(chǎn)品 |
加工定制： | 是 同參數(shù)產(chǎn)品 |
外形尺寸（長x寬x高）： | 150*440*520 mm 同參數(shù)產(chǎn)品 |
詳細說明
設(shè)備品牌 | 穩(wěn)科（Wayne Kerr） |
型號/規(guī)格 | 1J3260B |
生產(chǎn)廠商 | Wayne Kerr Electronics |
主 要 技 術(shù) 指 標 | 測試參數(shù)：L、Z、Rdc、C、Q、D、Rac、θ、漏電感、圈數(shù)比、層間電容 頻率范圍：20Hz~3MHz 基本精度：0.1% 儀器內(nèi)阻：50Ω 測試電壓/電流：1mV~10Vrms；50?A~200mArms 直流偏壓電流：內(nèi)置 1mA~1Amp；外接 WK3265 Series Bias Unit 測試范圍： R：0.01mΩ to >2GΩ L：0.1nH to >1000H C：5fF to >1F 測試模式： 1、多點DC Bias測試、多頻測試模式、自動測試模式 2、共振查找模式、消磁模式、波形掃頻功能、通信變壓器測試、耐壓、阻抗模式、變壓器模式 量測速度**、快速、中速及慢速 測試功能：定電壓、定電流/DC Bias Ramp up和Ramp down功能 耗電量：400VA maximum 測試接點:BNC接頭2組 測試線：2線式或4線式（Kelvin） 綜合參數(shù)： 使用電源230VAC±10%；115VAC±10% 顯示屏幕為高亮度LCD 溫度0℃~40℃（操作），-40℃~+70℃（保存），相對濕度≤80% 尺寸（mm）150/H*440/W*520/D，重量11kg |
