導波雷達物位計是依據時域反射原理(TDR)為基礎的導波雷達物位計，導波雷達物位計的電磁脈沖以光速沿鋼纜或探棒傳播，當遇到被測介質表面時，導波雷達物位計的部分脈沖被反射形成回波并沿相同路經返回到脈沖發(fā)射裝置，發(fā)射裝置與被測介質表面的距離同脈沖在其間的傳播時間成正比，經計算得出液位高度。
應用于水液儲罐、酸堿儲罐、漿料儲罐、固體顆粒、儲油罐。各類導電、非導電介質、腐蝕性介質。如煤倉、灰倉、油罐、酸罐等。
工作頻率:6.8G
測量范圍：纜式：0-30m；桿式、同軸式：0-6m
重 復 性：±3mm
分 辨 率：1mm
采 樣：回波采樣55 次/s
響應速度：>0.2S（根據具體使用情況而定）
輸出電流信號：4-20mA
精 度：<0.1%
通訊接口：HART 通訊協(xié)議
過程連接: G1-1/2
法蘭DN50，DN80，DN100，DN150
過程壓力: -1-40bar
電 源：24VDC(±10%),紋波電壓：1Vpp
耗 電 量：max 22.5mA
環(huán)境條件：溫度-40℃～+80℃
外殼防護等級：IP68
防爆等級：EXiaIICT6
兩線制接線：儀表供電和信號輸出共用一根兩芯屏蔽電纜線
電纜入口：2個M20×1.5(電纜直徑5--9mm)
1、通用性強：可測量液位及料位，可滿足不同溫度、壓力、介質的測量要求，測量溫度可達800℃，壓力可達5MPa，并可應用于腐蝕、沖擊等惡劣場合。
2、防掛料：*的電路設計和傳感器結構，使其測量可以不受傳感器掛料影響，無需定期清潔，避免誤測量。
3、免維護：測量過程無可動部件，不存在機械部件損壞問題，無須維護。
4、抗干擾：接觸式測量，抗*力強，可克服蒸汽、泡沫及攪拌對測量的影響。
5、準確可靠：測量量多樣化，使測量更加準確，測量不受環(huán)境變化影響，穩(wěn)定性高，使用壽命長。
應用于水液儲罐、酸堿儲罐、漿料儲罐、固體顆粒、儲油罐。各類導電、非導電介質、腐蝕性介質。如煤倉、灰倉、油罐、酸罐等。
工作頻率:6.8G
測量范圍：纜式：0-30m；桿式、同軸式：0-6m
重 復 性：±3mm
分 辨 率：1mm
采 樣：回波采樣55 次/s
響應速度：>0.2S（根據具體使用情況而定）
輸出電流信號：4-20mA
精 度：<0.1%
通訊接口：HART 通訊協(xié)議
過程連接: G1-1/2
法蘭DN50，DN80，DN100，DN150
過程壓力: -1-40bar
電 源：24VDC(±10%),紋波電壓：1Vpp
耗 電 量：max 22.5mA
環(huán)境條件：溫度-40℃～+80℃
外殼防護等級：IP68
防爆等級：EXiaIICT6
兩線制接線：儀表供電和信號輸出共用一根兩芯屏蔽電纜線
電纜入口：2個M20×1.5(電纜直徑5--9mm)
1、通用性強：可測量液位及料位，可滿足不同溫度、壓力、介質的測量要求，測量溫度可達800℃，壓力可達5MPa，并可應用于腐蝕、沖擊等惡劣場合。
2、防掛料：*的電路設計和傳感器結構，使其測量可以不受傳感器掛料影響，無需定期清潔，避免誤測量。
3、免維護：測量過程無可動部件，不存在機械部件損壞問題，無須維護。
4、抗干擾：接觸式測量，抗*力強，可克服蒸汽、泡沫及攪拌對測量的影響。
5、準確可靠：測量量多樣化，使測量更加準確，測量不受環(huán)境變化影響，穩(wěn)定性高，使用壽命長。
1、通用性強：可測量液位及料位，可滿足不同溫度、壓力、介質的測量要求，測量溫度可達800℃，壓力可達5MPa，并可應用于腐蝕、沖擊等惡劣場合。
2、防掛料：*的電路設計和傳感器結構，使其測量可以不受傳感器掛料影響，無需定期清潔，避免誤測量。
3、免維護：測量過程無可動部件，不存在機械部件損壞問題，無須維護。
4、抗干擾：接觸式測量，抗*力強，可克服蒸汽、泡沫及攪拌對測量的影響。
5、準確可靠：測量量多樣化，使測量更加準確，測量不受環(huán)境變化影響，穩(wěn)定性高，使用壽命長。
H----測量范圍
L----空罐距離
B----頂部盲區(qū)
E----探頭到罐壁的最小距離
頂部盲區(qū)是指物料料面與測量參考點之間的最小距離。
底部盲區(qū)是指纜繩部附近無法精確測量的一段距離。
頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離。
注意：
使用導波雷達物位計只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時，才能保證罐內物位的可靠測量。
2、防掛料：*的電路設計和傳感器結構，使其測量可以不受傳感器掛料影響，無需定期清潔，避免誤測量。
3、免維護：測量過程無可動部件，不存在機械部件損壞問題，無須維護。
4、抗干擾：接觸式測量，抗*力強，可克服蒸汽、泡沫及攪拌對測量的影響。
5、準確可靠：測量量多樣化，使測量更加準確，測量不受環(huán)境變化影響，穩(wěn)定性高，使用壽命長。
H----測量范圍
L----空罐距離
B----頂部盲區(qū)
E----探頭到罐壁的最小距離
頂部盲區(qū)是指物料料面與測量參考點之間的最小距離。
底部盲區(qū)是指纜繩部附近無法精確測量的一段距離。
頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離。
注意：
使用導波雷達物位計只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時，才能保證罐內物位的可靠測量。
