轉讓二手U4001光譜儀 可實現足以令“日立光度計品牌”自豪的精度。該產品對于在實際固體樣品檢測方面需要質量數據的用戶，例如半導體開發、光學樣品和新材料領域的用戶而言都是不錯的選擇。
該系統的陣容可滿足各種波長和各種尺寸待測樣品的檢測需求，并可通過結合各種特殊的附件來滿足不同的分析需要，例如用于檢測透過率和反射率的組件，以及可以極低的噪音水平在紫外區檢測的積分球。
轉讓二手U4001光譜儀
· 產品型號: U-4001
· 所屬類別: 光譜儀 - 紫外可見分光光度計
· 所屬品牌: 日立
· 所屬用途: 光譜元素分析
· 應用領域: 金屬
產品特性:
日立U-4001型紫外可見分光光度計是高的產品，可實現足以令“
日立紫外可見分光光度計U-4001簡單介紹
日立U-4001型紫外可見分光光度計是高產品，可實現足以令“日立光度計品牌”自豪的精度。該產品對于在實際固體樣品檢測方面需要高質量數據的用戶，例如半導體開發、光學樣品和新材料領域的用戶而言，是的選擇。
日立紫外可見分光光度計U-4001詳細介紹
日立U-4001型紫外可見分光光度計是高產品，可實現足以令“日立光度計品牌”自豪的精度。該產品對于在實際固體樣品檢測方面需要質量數據的用戶，例如半導體開發、光學樣品和新材料領域的用戶而言都是不錯的選擇。
該系統的陣容可滿足各種波長和各種尺寸待測樣品的檢測需求，并可通過結合各種特殊的附件來滿足不同的分析需要，例如用于檢測透過率和反射率的組件，以及可以極低的噪音水平在紫外區檢測的積分球。
日立紫外可見分光光度計U-4001儀器特點
U-4001型紫外可見分光光度計在檢測固定樣品方面性能十分出色，可精確地檢測極化屬性。此圖顯示的是一束YAG激光在入射角為45°時所檢測的反射率，體現了以微加工機為鏡面產生的S-偏光和P-偏光光線的反射特性。兩種偏光的反射率在1064nm時均接近。
在光學元件的制造中，獲得精確的偏光特性指標十分重要。
日立紫外可見分光光度計U-4001技術參數
項目 | U-4001 |
波長范圍 | 175 至 2,600nm |
分光器 | 棱鏡-光柵或光柵-光柵型雙分光器 |
檢測器 | 光電倍增管（UV-VIS）：冷卻型PbS（NIR） |
樣品倉 | 樣品倉在機身頂部，與臺面同，可容納內超大型樣品：倉內尺寸為 |
尺寸（分光光度計主機） | 730（W）x 800（D）x 880（H）mm（用于大型樣品的材料室） |
重量 | 120kg |
電源消耗 | 100, 115, 220, 230, 240V 交流 50/60Hz 500VA |
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