德國InstrumentSystems光譜儀/光學探頭/輻射亮度測量探頭/光譜儀配件TOP200–用于輻射和亮度測量的光學探頭TOP200光學探頭基于普里查德式光學設計，帶有集成式取景相機。  

產品特長：  

1、普里查德式光學設計配有傾斜度僅15º的孔鏡，可以提供非常圓的清晰圖像點  

2、光纖的靈活連接和獲取可重現讀數的L模式混合器，以及極低的偏振靈敏度  

3、可通過軟件選擇的6種測量點大小  

4、具有寬視場的內部取景相機  

5、小的測量點：80µm  

6、測試對象的可選照明  

7、TOP150是具有單孔徑的低成本替代產品。  

測量應用  

測得的輻射強度由TOP200通過多模光纖耦合到光譜儀中。InstrumentSystems的L模式混合器可確保光纖中的光透射均勻，即使光纖位置改變，也可產生可重現讀數。  

普里查德原則支持在測量過程中觀察視場，并監控視場進行準確定位。取景相機的圖像由SpecWinPro軟件自動導入并與讀數一起保存。