美國熱電5014i顆粒物監(jiān)測(cè)儀配件蓋革計(jì)數(shù)器
5014i 型環(huán)境顆粒物連續(xù)監(jiān)測(cè)儀在以下情況下，干擾影響通常zui大：
● 濾帶更換后的90 分鐘，直至濾帶上達(dá)到放射平衡
● 氡氣含量迅速變化期間
● C-14 源活性非常低的時(shí)候
美國熱電5014i顆粒物監(jiān)測(cè)儀配件蓋革計(jì)數(shù)器5014i 型環(huán)境顆粒物連續(xù)監(jiān)測(cè)儀利用 β 射線衰減法同時(shí)連續(xù)測(cè)定懸浮和微小顆粒物（例如，TSP、PM10、PM2.5 和 PM1）的質(zhì)量濃度。此外，在顆粒物質(zhì)量濃度計(jì)算過程中，扣除了天然氡氣（Rn-222）的放射影響，這樣可以在環(huán)境顆粒物濃度較低的情況下提供更好的靈敏度。與將碳 -14（C-14）作為 β 放射源的其它 β 衰減監(jiān)測(cè)儀對(duì)比，5014i 樣品收集區(qū)位于 C-14 源與比例計(jì)數(shù)器之間。
美國熱電5014i顆粒物監(jiān)測(cè)儀配件蓋革計(jì)數(shù)器當(dāng)大氣顆粒物沉積到濾帶采樣點(diǎn)的同時(shí)，可通過 C-14 放射源發(fā)射的 β 射線的衰減來測(cè)定顆粒物在濾帶上的動(dòng)態(tài)沉積。通過這種配置，提供連續(xù)性的環(huán)境顆粒物實(shí)時(shí)測(cè)量。無需將取樣點(diǎn)從樣品位置移動(dòng)到單獨(dú)的檢測(cè)器位置以進(jìn)行零值測(cè)定和質(zhì)量測(cè)定（原步進(jìn)式 β 衰減監(jiān)測(cè)儀法）。因此，通過使用這種連續(xù)環(huán)境顆粒物監(jiān)測(cè)方法消除了步進(jìn)式濾帶傳輸?shù)牟淮_定性。
5014i 的另一個(gè)*設(shè)計(jì)是針對(duì)那些已知的影響 β 射線衰減法的背景干擾。實(shí)際使用時(shí)，天然惰性氣體氡（Rn-222）的子體核素附著到大氣顆粒物上，然后在質(zhì)量測(cè)量期間將其收集在樣品濾帶上。一些放射性子體核素也是 β 射線的發(fā)射源，會(huì)干擾顆粒物質(zhì)的正確測(cè)量。在以下情況下，干擾影響通常zui大：
● 濾帶更換后的90 分鐘，直至濾帶上達(dá)到放射平衡
● 氡氣含量迅速變化期間
● C-14 源活性非常低的時(shí)候
