集成電路測試儀產(chǎn)品簡介:
GT2200A測試儀集功能測試、參數(shù)測試于一體，專門用于各種單運(yùn)放、多運(yùn)放和電壓比較器的測量 。
功能測試、測量數(shù)據(jù)、管腳選擇、數(shù)據(jù)比較等均由CPU完成，不需過多的人工干預(yù)。只需簡單且較少的按鍵操作就能讓您得到您所關(guān)心的芯片參數(shù)，或優(yōu)劣程度。免去使用各種接線盒來適配各種不同的運(yùn)放/比較器的煩惱。測試操作簡單，功能齊全，可按需要選取測量參數(shù)，測量結(jié)果不受人為因素影響。
集成電路測試儀產(chǎn)品特點(diǎn):
1．根據(jù)IC型號(hào)自動(dòng)切換測試，無需人工轉(zhuǎn)接線更換測試盒。
2．具有自校準(zhǔn)功能，測試參數(shù)基準(zhǔn)穩(wěn)定。
3．測試參數(shù)值讀取快潔、直觀。
4．測試操作簡單。
5．它可以對(duì)線性IC的11項(xiàng)交直流參數(shù)進(jìn)行測試及功能測試。
6．提供自適應(yīng)測試方式：以樣片為基準(zhǔn)，對(duì)同型號(hào)IC 進(jìn)行篩選測試進(jìn)行快速篩選。
GT2200A基本使用方法:
先取一個(gè)“有代表”性(滿足使用要求)的芯片進(jìn)行“學(xué)習(xí)”，即將該芯片的各種應(yīng)測數(shù)據(jù)保存起來。再對(duì)其他芯片進(jìn)行有選擇性的“比較”測試，即對(duì)您所關(guān)心的數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)測量，并與“學(xué)習(xí)”數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，顯示出優(yōu)劣結(jié)果。操作十分簡單，容易掌握；尤其是大批量篩選更為簡單，優(yōu)于樣板的就通過，不必一一讀取測量結(jié)果，并逐一查看其是否符合要求。若想看測量結(jié)果，也可用按鍵逐一翻看。
應(yīng)該說它即可滿足生產(chǎn)篩選的需要，也可滿足科研開發(fā)使用。
GT2200A 測試參數(shù)：
| 測試參數(shù) | 符號(hào) | 單位 | 誤差 |
| 失調(diào)電壓 | Vio | mV | <5％ |
| 失調(diào)電流 | Iio | nA | <5％ |
| 偏置電流 | Iib | nA | <5％ |
| 靜態(tài)功耗 | Pd | mW | <5％ |
| 開環(huán)增益 | Avd | db | <5％ |
| 共模抑制比 | Kcmr | db | <5％ |
| 輸入電阻 | Rid | KΩ | <10％ |
| 輸出電阻 | Ros | Ω | <10％ |
| 增益帶寬積 | Gbw | KH | <5％ |
| 電源電壓抑制比 | Ksvr | db | <5％ |
| 輸出電壓峰-峰值 | Vopp | V | <5％ |
測試內(nèi)容說明：
· 靜態(tài)工耗 是在測試電壓為± 8V下測得（個(gè)別特殊比較器在+12V/-6V下測得）。
·對(duì)于自適應(yīng)測試，比較誤差小于5%
· 失調(diào)電壓 測量范圍：100uV─100mV，
Vos 超過 100mV 時(shí)， 認(rèn)為功能失效；
|Vos| 在2mV─100mV之間，相對(duì)誤差<3%；
|Vos| 在0.1─2mV之間，相對(duì)誤差<6%失調(diào)電流。
· 偏置電流 測量范圍： Ios，Ib >10nA時(shí) 相對(duì)誤差<3%；
Ios，Ib<10nA相對(duì)誤差<8%；
Ios；Ib<0.5nA，相對(duì)誤差較大。
· 靜態(tài)功耗 測量范圍：0.3─180mW、Pd>10mW，相對(duì)誤差 <3%
· 輸出電阻 測量范圍：25─2.5k，分辨率為5Ω
· 輸入電阻 測量范圍：20KΩ─15MΩ，分辨率KΩ
·輸入電阻高于15M的芯片不測此項(xiàng)參數(shù)，若“錯(cuò)敲”鍵入型號(hào)，如測LF347而鍵入“342”（LM324），
所測的輸入電阻是不真實(shí)的。
· 壓擺率 為擴(kuò)充測試項(xiàng)。
額定工作條件及規(guī)格：
整 機(jī) 功 耗： 35W
電 源： 220V/AC 50HZ
使用環(huán)境溫度：5─35
相 對(duì) 濕 度： 45%RH
重 量： 5.5kg
外界電磁干擾： 避免
