6433系列光波元件分析儀包括6433D（10MHz～20GHz）、6433F（10MHz～43.5GHz）、6433H（10MHz～50GHz）、6433L（10MHz～67GHz）。6433系列是面向高速電-光（E/O）器件、光-電（O/E）器件、光-光（O/O）器件特性測試的解決方案，調制頻率范圍覆蓋10MHz~67GHz，支持不同頻率范圍、頻率間隔、中頻帶寬的設置，最小頻率分辨率達到1Hz。6433系列采用一體集成的設計方案，通過寬帶硬件優化設計，構建網絡誤差模型，利用核心校準算法，實現了一鍵式寬帶快速掃頻測試，主要用于現代高速光傳輸系統中核心電-光器件（電光調制器、直接調制激光器、光發射組件）、電-光器件（PIN光電探測器、APD光電探測器、光接收組件）、光-光器件（光纖濾波器等光無源器件）的帶寬、幅頻響應、相頻響應、群時延等參數測試。

主要特點

l 校準方便快捷，向導式操作流程

l 一體化多功能操作界面

l 大動態測量范圍，測量軌跡噪聲小

l 用戶數據自動移除，為在片測試提供擴展使用

l 單端-平衡光電器件模式測量

l 多功能化工具箱

l 內、外部光源波長設定，更寬的通信波長測試范圍

校準方便快捷，向導式操作流程

6433系列光波元件分析儀在校準方面具有清晰的操作流程，主要包括電校準和光路參數校準，通過采用向導式操作提示為用戶提供快速高精度校準。

一體化多功能操作界面

6433系列光波元件分析儀具備了電-電、電-光、光-電、光-光四種測量模式，功能模式之間可任意切換，滿足了目前絕大多數通用器件的S參數、阻抗、時域等參數測量需求。

大動態測量范圍，測量軌跡噪聲小

采用了高精度和響應平坦的內部核心器件，結合通過設定不同中頻帶寬和平均，可獲得更大的動態測量范圍和更小的軌跡噪聲，可以獲取測量結果的更多細節。

用戶數據自動移除，為在片測試提供擴展使用

通過用戶自定數據或夾具去嵌入數據提升測量精度，尤其在片測試時所需的探針誤差移除時，使得測量更加靈活，滿足用戶不同場合的測量需求。

單端-平衡光電器件模式測量

儀器可通過選用不同的配置，滿足單端-單端和單端-平衡的光發射或光接收器件或組件對差分增益和共模抑制參數的測試需求，更加貼合現有和未來高速光纖通信領域中多端口參數的測量場合。

多功能化工具箱

內置大動態范圍光功率計，可實時監測輸入光功率數值，通過高級設置，可將光發射模塊設定為保偏激光源輸出模式（CW）模式，消光比大于20dB，為M-Z型LiNiO3調制器提供所需的保偏光源。

內、外部光源波長設定，更寬的通信波長測試范圍

測試不僅局限于1310nm/1550nm，支持1260nm~1630nm的外部光源輸入，覆蓋更寬的通信波長，滿足CWDM、DWDM系統核心器件測量需求。