設備用途Equipment use
PCT高壓加速老化試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。
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廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。
產品 · 特點Product features
標準設計更安全
內膽采用圓弧設計防止結露滴水,符合國家安全容器規范;
自主設計
大型彩色液晶觸摸控制器,側面纜線孔方便外部負載及內部數據連接,通過選購接口可進行網絡監控;
全自動補水
試驗開始時系統自動一次加足試驗所需用水,試驗不中斷;
低噪音設計
運行音量可達65db*標準;
智能化高
支持電腦連接, 利用USB數據、 曲線導出保存