產品介紹
F30 系列在線厚度測量系統是監控薄膜沉積有力的工具，能實時測量沉積率、沉積層厚度、光學常數 (n 和 k 值) 和半導體以及電介質層的均勻性。在分子束外延和金屬有機化學氣相沉積鍍膜中，F30可以測量平滑和半透明的，或輕度吸收的薄膜，這實際上已經包括了從氮化鎵鋁到鎵銦磷砷的任何半導體材料。
F32則可以配置多個探頭，最多可在四個不同位置同時測量薄膜的厚度，軟件和測量結果可以通過設備上的數字I/O接口進行控制和采集，F32是一款非常適合集成在自動化生產線的膜厚測量設備。
全光科技（北京）有限公司位于北京市中關村科技園區昌平園，多年來一直致力于光學技術的應用和推廣，產品涉及光纖通信，光纖傳感，半導體，，科研和教育行業，客戶遍及國內各大高校，科研院所以及高科技企業。
全光科技始終堅信“質量、服務、誠信、創新才是發展的硬道理”，堅持“科技創新、質量優先”的管理信念，“自信源于專業，拼搏成就夢想”是我們的經營理念，我們一直努力為客戶提供質優、價廉、專業、可靠的光學測量儀器及服務。
全光科技目前的合作伙伴主要有美國OEwaves、Luna、General Photonics、Micron Optics（MOI）、LaseGen、Ophir-Photon、Bristol、Filmetrics，加拿大WL Photonics、CodeSScientific、EXFO，德國Novoptel，Toptica，HighFinesse，英國PE fiberoptics，法國Yenista，韓國Sairon Tech，日本Anritsu、Santec和Yokogawa等公司。
F30 系列在線厚度測量系統是監控薄膜沉積有力的工具，能實時測量沉積率、沉積層厚度、光學常數 (n 和 k 值) 和半導體以及電介質層的均勻性。在分子束外延和金屬有機化學氣相沉積鍍膜中，F30可以測量平滑和半透明的，或輕度吸收的薄膜，這實際上已經包括了從氮化鎵鋁到鎵銦磷砷的任何半導體材料。
F32則可以配置多個探頭，最多可在四個不同位置同時測量薄膜的厚度，軟件和測量結果可以通過設備上的數字I/O接口進行控制和采集，F32是一款非常適合集成在自動化生產線的膜厚測量設備。
| 產品名稱 | 參考價 | 地區 | 公司名稱 | 更新時間 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 白光干涉光學膜厚測量儀 | ￥960000 | 深圳市 | 深圳市中圖儀器股份有限公司 | 2025-03-28 | 在線詢價 |
| 電磁超聲波測厚儀 | 面議 | 武漢市 | 武漢庫爾特科技有限公司 | 2025-04-03 | 在線詢價 |
| 8811型測厚儀 | 面議 | 常州市 | 常州金壇泰納儀器廠 | 2025-03-10 | 在線詢價 |
| 工業在線涂層測厚儀 | 面議 | 青島市 | 青島聚創環保集團有限公司 | 2025-03-11 | 在線詢價 |
| ROLAND測厚儀E20-4P-PN-S-FP 焊縫檢測SND40 | ￥1000 | 天津市 | 天津克萊瑞科技有限公司 | 2025-04-11 | 在線詢價 |
| 熱沉陶瓷鍍鈦鉑金金錫合金比例和厚度測量儀 | ￥450000 | 蘇州市 | 蘇州吉恩斯檢測技術服務有限公司 | 2025-03-07 | 在線詢價 |
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