過程光度計
PUV3402 和 PIR3502
新一代的在線過程光度計
MultiwaveTM過程光度計設計用于氣體或液體組份測量，在簡單或復雜的工藝生產流程中為過程控制、產品質量控制、安全、催化劑保護和環境監測提供依據
MultiwaveTM過程光度計是固定濾光器光度計，利用光學濾光器進行連續測量。單一的光束，雙波長概念使用在MultiwaveTM過程光度計上，用于補償光源和檢測器老化，以及測量池窗口的污染。同時，保證樣品池與電子部件的隔離。
MultiwaveTM過程光度計設計采用單一光束，雙波長概念的一個重要的舉措是，增加了8個濾光器到濾光輪上。這個改進的方法提供了多組份過程光度計。使用多波長功能的MultiwaveTM過程光度計，能夠補償眾多干擾，并進行多組份分析應用。
新的MultiwaveTM過程光度計提供了更強的操作性能，更高的運行效率和豐富的功能。MultiwaveTM過程光度計有兩個基本系列，每個系列都能滿足眾多的應用需求。
PIR3502MultiwaveTM過程光度計應用于紅外測量。
PUV3402MultiwaveTM過程光度計設計用于紫外和可見光光譜范圍。
MultiwaveTM過程光度計能被連接到ABB分析儀家族的VistaNETTM過程分析儀網絡，提供從分析儀到DCS的數據交換，無縫連接到工廠局域網，用于遠程用戶訪問，接入VistaNETTM后，所有的操作員功能可以在分析儀或遠程PC上執行。
MultiwaveTM光譜范圍
紅外(IR)2.50-14.5um
近紅外(NIR)800-2500nm
可見光(VIS)400-800nm
紫外(UV)200-400nm
MultiwaveTM過程光度計的應用
PIR3502
紅外：
氯化芳烴溶劑中的異氰酸酯
環境空氣監測
聚合過程的多組份單體
近紅外：
測量含(C-H,N-H,O-H)
官能團中的水，比如二氯乙烯(EDC)
酸性脫除應用中腐蝕性樣品
PUV3402
可見光：
色度測量(ASTM,APHA,Saybolt Color Units)
紫外：
乙二醇工藝
光氣中的氯氣測量
更多詳細信息參加MultiwaveTM過程光度計及應用手冊
VistaNETTM連接
VistaNETTM過程分析儀網絡是一個局域網，用一個專用和可靠的方式，提供從過程光度計到DCS的數據交換。VistaNETTM也提供無縫連接到工廠局域網。
通過MultiwaveTM過程光度計遠程用戶界面，用戶能從遠程PC配置、操作和維護操作分析儀。遠程訪問能執行所有的操作功能。
遠程組態和監視MultiwaveTM過程光度計，提高技術人員的時間利用率
吸收光率與濃度數據的曲線圖，可以使得操作者檢查標定樣品的準確性和線性。
遠程維護通過調制解調器，多個用戶能夠同時觀察數據和維護工作。
報告和表格在遠程位置能被打印和顯示。
VistaNETTM設計適用于大多數用戶使用的計算機硬件配置，操作系統包括WindowsTM95,98和NT，TCP/IP和其它協議。同時也能夠非常簡單，經濟地連接其它網絡*
更多詳細信息參見VistaNETTM手冊
可靠的設計和性能
PUV3402和PIR3502MultiwaveTM過程光度計，設計適用于所有的富有挑戰性的過程環境、包括環境溫度變化、潮濕、腐蝕和爆炸性環境、電磁輻射、粉塵和振動。
易維護每個主要的部件可以被容易的拆除和更換，顯著減少維護時間。
固態檢測器PIR3502和PUV3402使用固態檢測器。檢測器有穩定的溫度特性并對振動的不敏感。不需要機械調節和小的內部連接。具有優良的線性和長使用壽命。
切光馬達提供優良的機械可靠性和長使用壽命。
多大8個點的線性化曲線保證2%滿量程線性值，并允許在某一特定范圍內使用好的精度。
*隔離的樣品池防止易燃性和腐蝕性流體接觸到電子部件，允許樣品池加熱到佳樣品條件，并選擇佳的光學路徑。
光路自動校正在維護操作期間節省時間。
溫度控制濾光組件消除溫度對濾光片的影響，提供長期的穩定性。
樣品池電加熱概念的Division I/Zone I的電加熱樣品池，采用*的伴熱管概念，減少了樣品池上的溫度梯度。提供一個更穩定的輸出和優良的溫度控制。
數據有效性確保MultiwaveTM過程光度計數據的可靠性。
自診斷為維護操作提供幫助。
功能用戶界面分析儀直接用戶界面，簡單和容易地使用MultiwaveTM分析儀的前面板鍵盤和顯示器。內建的VistaNETTM功能，全部的操作功能可以從遠程PC機上執行。
UV/VIS/NIR光纖光學選項
PFO3502MultiwaveTM過程光度計提供一個光纖光學選項，用于遠距離取樣的應用。采用該選項，光波通過光纖傳輸到遠程樣品池，另一個光纖將樣品吸收后的光波返回到檢測器。
光纖選項可以有效地在紫外/可見光/近紅外應用，例如：
高毒性樣品
腐蝕性樣品
需要快速響應時間
高壓樣品
樣品池在加熱箱中的樣品系統
MultiwaveTM過程光度計樣品池在加熱箱中的設計，提供了一個高溫應用中簡單有效的解決方案。這種設計的好處是樣品池和樣品處理組件在共用一個溫度控制箱，從而消除了伴熱樣品關系存在的冷點。這種設計也保證了維護時間能夠快速拆除樣品池。
