安捷倫4291B射頻阻抗/材料分析儀提供高精確度和便于測量表面貼裝元件和介質/磁性材料的整體解決方案。
基本阻抗精度為+ / - 0.8％。高Q精度有利于低損耗成分分析。內部合成器掃過頻率為1 MHz至1.8 GHz的1 mHz的分辨率。1.8米誤差小于電纜分析儀連接到測試站，因此您可以擴展您的測試點離分析儀，而不會失去準確性。*的校準和誤差補償功能消除測量誤差的因素夾具，保證高精確性和可重復性在DUT / MUT。
安捷倫4291B還提供了自動電平控制和測試信號的顯示器用IBASIC編程; 設備可以以恒定的電壓或電流下進行測量。測量與可選的直流偏置（高達40 V和100 mA時）偏置相關的阻抗特性。在按下按鈕，內置的等效電路分析功能自動計算五種電路模型的電路常數的值。
安捷倫4291B有兩個測量通道; 每個通道可設置為測量單個（例如，Z）或雙（例如，Z-θ）阻抗參數。色的TFT分割顯示屏可以顯示各種動態的痕跡和記憶痕跡（存儲在RAM中）。內置的軟盤驅動器用于存儲程序和在任LIF或MS-DOS格式的測試數據。帶有內置IBASIC，您可以控制??外部測試設備，如直接從安捷倫4291B的溫度室或晶圓探針臺。你不需要一個單獨的儀器控制器。
安捷倫4291B可方便和*的材料評估，提高材料評估的質量和效率。它提供的頻率范圍內，1 MHz至1 GHz，總介電/磁性??材料測量解決方案。
- 四種元件測試夾具（被測件尺寸：0.5毫米至20毫米）
- 在2路獨立的參數選擇
- 直接讀出介電常數，導磁率（選項）
- 兩種材料夾具（工作溫度：-55deg C到+200攝氏度）
- 多才多藝的分析（溫度，科爾 - 科爾圖，弛豫時間）
- 掃描參數（頻率，交流電平，直流偏置電壓，溫度）的
- 阻抗參數：| Z |，θ ?，| Y |，θ 荻，R，X，G，B，C p，C s，L p，L s，R p，R s，D，Q，|Γ| ，θ ý，Γ x，Γ ý
- 頻率特性
- 工作頻率：1 MHz至1.8 GHz的
- 頻率分辨率：1兆赫
