XTU-4CX熒光光譜儀 鍍層測厚儀是一款設計結構緊湊，模塊精密化程度*的鍍層測厚儀，采用了下照式C型腔體設計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型。該系列儀器使用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內的樣品涂鍍層檢測。被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。
快速精準移動定位：高精密微型移動滑軌，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm
微焦X射線裝置：檢測面積可小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件高效率正比接收器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性變焦裝置及算法：可對各種異形凹槽進行檢測，凹槽深度測量范圍可達0-30mm對焦方便：下照式設計可以快速定位對焦樣品
XTU-4CX熒光光譜儀 鍍層測厚儀廣泛應用于電鍍行業、通訊行業、汽車行業、五金建材、航空航天、水暖衛浴、精密電子、珠寶首飾和古董等多種領域。
多元迭代EFP核心算法
專業的研發團隊在Alpha和Fp法的基礎上，計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應、散射背景等多元優化迭代研發出EFP核心算法，結合*的光路轉換技術、變焦結構設計及穩定的多道脈沖分析采集系統，只需要少量的標樣來校正儀器因子，可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。單涂鍍層應用：如Ni/Fe、Ag/Cu等多涂鍍層應用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等合金鍍層應用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等合金成分應用：如NiP/Fe，通過EFP算法，在計算鎳磷鍍層厚度的同時，還可精準分析出鎳磷含量比例。重復鍍層應用：不同層有相同元素，也可準確測量和分析。如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，一層Ni和三層Ni的厚度均可測量。
