7-CRD CCD光電性能測量系統(tǒng)
CCD光電性能測量系統(tǒng)又稱CCD成像電子學(xué)系統(tǒng)光電聯(lián)試定量測試設(shè)備。
本系統(tǒng)能夠解決空間光學(xué)遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設(shè)計(jì)及輻射校正設(shè)計(jì)及為光電成像器件受輻照后性能變化的機(jī)理研究提供檢測手段等諸多科學(xué)問題；同時(shí)能夠在業(yè)界對光電成像器件抗輻射性能評價(jià)的標(biāo)準(zhǔn)化和規(guī)范化起到積極推進(jìn)作用。
技術(shù)參數(shù)：
1、工作波段：380nm~1000nm（其他波長范圍可選）；
2、動態(tài)范圍：≥80dB;
3、光譜分辨率：≤0.5nm；
4、峰值波長（測量精度）：優(yōu)于±1nm；
5、中心波長（測量精度）：優(yōu)于±1.2nm;
6、光譜帶寬：（測量精度）：優(yōu)于2nm；
7、相對光譜響應(yīng)度（測量精度）：優(yōu)于2%；
8、有效測量區(qū)域：≤φ120mm；
9、暗噪聲：優(yōu)于±0.5mv；
10、信噪比（測量精度）：優(yōu)于±5dB；
11、飽和輸出電壓（測量精度）：優(yōu)于±20mV；
12、響應(yīng)非均勻性（測量精度）：優(yōu)于1%；
13、響應(yīng)非線性（測量重復(fù)性）：優(yōu)于2%；
14、噪聲等效曝光量（測量精度）：優(yōu)于2%；
15、光輻射響應(yīng)度（測量精度）：優(yōu)于2%。
