冷熱沖擊試驗儀器常用于半導體行業及半導體產品、材料、配件做在瞬間下經*高溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度,藉以在最短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。
冷熱沖擊試驗儀器標準型型號（另：可根據客戶要求定做）：
AP-TS--80 內箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440
AP-TS--150 內箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540
AP-TS--250 內箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640
AP-TS-S-480 內箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150
外箱尺寸：以實際尺寸為標準。
高溫槽預熱溫度范圍：+60℃～200℃；
升溫時間： +60℃～200℃≤30min；
低溫槽預冷溫度范圍： -75～-10℃；
降溫時間： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降溫時間為低溫槽單獨運轉時的性能﹚
試驗方式： 氣動風門切換
溫度沖擊范圍： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚
溫度偏差： ±2.0℃
溫度波動度： ±0.5℃
溫度恢復時間： ≤5分鐘
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