X熒光光譜儀采購
能量色散 X 熒光光譜儀簡稱 XRF，是一種物理的元素分析方法。近年來 XRF 主要作為一種快速檢測手段在電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業發揮了很大的作用。XRF 具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢。在環保領域和食品領域，XRF 通過直接測試的方法，快速篩選出樣品中的有害元素是否超出標準。XRF W7 在金屬成
X熒光光譜儀采購
XRF W7 對測試電鍍鍍層應用廣泛，可以測試鐵鍍鋅，鐵鍍鉻，銅鍍鎳金，銅鍍錫，……另外，XRF 在現場分析和過程控制分析等方面的應用很廣，例如廢舊金屬回收，土壤現場檢測，在線物料檢測等。XRF W7 產品應用測試是全開放式，在教學、科研實驗領域能夠帶來大的應用價值。
X熒光光譜儀采購概述
1.工業電腦、控制系統和信號處理整機集成，干擾降低，儀器運行穩。
2.儀器采用更多符合實際樣品的標準樣品，相對分析的準確性更好。
3. 采用真實 500 萬像素攝像頭，樣品觀察清晰，定位準確；
4. 采用*元素二次強度提取算法，提高了微量元素的檢出限；
5. 自定義的物料測試完成聲音提醒功能，方便操作人員多任務工作；
6. 工作指示燈采用流水燈控制模塊，操作人員更直觀了解儀
儀器狀態；
7. 軟件集成多種模式的應用曲線。
8. 同一軟件集成了成分分析和鍍層厚度分析。
9. 核心配件獨立模塊設計，避免相互電磁干擾，提高了儀器的檢出限，降低了儀器的故障率；
10. 多種語言軟件版本。
2功能
2.1 集成數據統計功能，方便品質部門通過篩選統計供應商、物料名稱、部件以及通過不同時間段測試狀況；
2.2 提供開放式工作曲線標定功能，可為用戶量身定做很好的有害物質檢測方法和控制方案；
2.3 軟件開機自檢與故障判斷功能，保證儀器始終在正常工作狀態下運行以及出現異常時及時排除；
2.4 分析數據一鍵備份還原功能，避免因誤操作或其它原因造成的損失，保障數據及系統文件安全；
2.5 根據用戶需求自行定制測試報告輸出格式(Excel 和列表等)，符合工廠多種統計要求；
2.6 具有核心硬件實時溫度監控功能，通過熱源分析設計與軟件實時控制，將硬件的熱量及時排出，減少探測器受溫度變化而產生的影響；
2.7 支持大樣品測試功能，并有流程指引設計。
熒光光譜測試儀 產品參數
元素分析范圍 | 從硫 S-鈾 U 之間的元素 重金屬有害元素/鹵素/八大重金屬等 合金：銅材，鐵合金，鎳合金，錫合金，鈦合金，貴金屬 鍍層：Ag/Sn/Au/Ni—Cu，Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe |
樣品范圍 | 固體、液體、粉末； |
低檢出限 | 輕基體有害元素 2ppm 左右。 成分分析：0.01%--99.99% 鍍層分析：0.0035um--40um |
測試時間 | 60s-200s(軟件自動調整) |
X 射線源 | 型號：GT-50-Mo 生產廠家：東莞高天 X 射線光管（*） 窗口材料：金屬鈹 |
X 光管適用壽命 | 大于 20000 小時 |
探測器 | 型號100CR+ DP5+PX5 生產廠家：美國 Amptek 電制冷 Si-Pin 探測器 分辨率 145ev±5 1mil 鈹窗厚度（X123 由 100CR+DP5+PX5） |
高壓電源 | X3513 咸陽威思曼生產 0-50kev，0-2mA 大 50W |
高壓保護措施 | 過壓自保護，自恢復 6 / 12 |
高清晰攝像定位系統 | 清晰精準 |
集成工業計算機 | 2G 內存，1.6G 雙核 CPU 操作系統：Windows7 無需外接電腦 |
準直器 | 光斑φ1mm、3mm、4mm(軟件自動選擇) |
工作環境溫度 | 溫度:15-30℃ |
工作環境相對濕度 | ≤85% （不結露 No dew） |
輸入電源 | AC 220V±15%，50Hz |
額定功率 | 128W |
儀器尺寸 | 650mm*450mm*350mm |
樣品腔尺寸 | 280mm*280mm*200mm |
重量 | 約 32Kg |
輻射防護標準 | 符合 GB18871-2002 GBZ115-2002 標準 |
