使用吉時利4200A-SCS參數分析儀（參數測試儀） 加快各類材料、半導體器件和*工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。 4200A-SCS是業內性能電學特性半導體參數分析儀，提供同步電流電壓曲線測試（IV曲線測試）、電容電壓曲線測試（CV曲線測試）和超快脈沖IV曲線測量。
推進大膽發現從未如此容易。4200A-SCS 參數分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達 50％，從而實現的測量和分析能力。此外，嵌入式測量專業知識提供的測試指導，并讓您對最終結果充滿信息。
特點
用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測量類型的高級測量硬件立即使用 Clarius 軟件中所含的數百種用戶可修改應用程序測試開始測試
自動實時參數提取、數據繪圖、分析函數
準確的 C-V 表征
使用吉時利的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時利行業的 CVU 架構中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進行低噪聲電容測量。
特點
同類產品中能夠驅動1 V AC 電源電壓的 CV 表1 kHz 頻率，分辨率從1 kHz 到 10 MHz
測量電容、電導和導納
使用 4200A-CVIV 多路開關最多可測量四個通道
使用 4215-CVU 進行 Femtofarad (1e-15F) 電容測量
測量、 切換、 重復。
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。
特點
無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
用戶可配置低電流功能
個性化輸出通道名稱
查看實時測試狀態
穩定的低電流測量，適用于 I-V 檢定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統中實現穩定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇，可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現場可安裝單元和可選的預放大器模塊，Keithley 可確保您獲得最準確的低電流測量，而停機時間很少甚至沒有。
使用 4201-SMU 和 4211-SMU，通過高測試連接電容進行穩定的低電流測量
特點
不必將儀器送回工廠即可增加 SMU
進行 飛安測量
多達 9 個 SMU 通道
針對長電纜或大卡盤進行了優化
帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案
4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點
“點擊”測試定序
“手動”探測器模式測試探測器功能
假探測器模式無需移除命令即可實現調試
降低成本并保護您的投資
吉時利保障計劃以按需服務事件的一小部分成本提供快速、高質量的服務。 只需點擊一下或一個電話即可獲得維修服務，在此過程中，無需報價或填寫采購單，也不會有審批延誤。
| 產品技術資料 | 型號 | 描述 | 價格 |
|---|---|---|---|
| 查看產品技術資料 | 4200A-SCS-PKA 高分辨率 IV 套件 | 4200A-SCS：參數分析儀主機 4201-SMU：兩個用于高容量設置的中功率 SMU 4200-PA：一個預放大器 8101-PIV：一個帶有采樣裝置的測試夾具 | 索取報價 |
| 查看產品技術資料 | 4200A-SCS-PKB 高分辨率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS：參數分析儀主機 4201-SMU：兩個用于高容量設置的中功率 SMU 4200-PA：一個預放大器 4215-CVU：一個高分辨率多頻 C-V 單元 8101-PIV：一個帶有采樣裝置的測試夾具 | 索取報價 |
| 查看產品技術資料 | 4200A-SCS-PKC 高功率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS：參數分析儀主機 4201-SMU：兩個用于高容量設置的中功率 SMU 4211-SMU：兩個用于高容量設置的高功率 SMU 4200-PA：兩個預放大器 4215-CVU：一個高分辨率多頻 C-V 單元 8101-PIV：一個帶有采樣裝置的測試夾具 | 索取報價 |
| 查看產品技術資料 | 4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 | 用于使用硅 CMOS 技術進行的復雜 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 套件包括：
| 索取報價 |
