ORTEC高純鍺HPGe探測(cè)器制造已有近半世紀(jì)的歷史，多年來(lái)不斷發(fā)展和提升探測(cè)器的性能和種類，可提供不同種類的探測(cè)器，相對(duì)效率涵蓋5%至200%，滿足不同領(lǐng)域的特殊應(yīng)用。
1核物理中核結(jié)構(gòu)分析，分子物理研究，原子碰撞研究
2、核電
3、環(huán)境檢測(cè)，環(huán)境監(jiān)測(cè)
4、檢驗(yàn)檢疫，生物醫(yī)學(xué)天體物理，化學(xué)，地質(zhì)，考古學(xué)，冶金，材料分析
● 晶體類型：井式高純鍺探測(cè)器，晶體體積大于120立方厘米，井直徑15.5mm, 井深40mm；
● 能量分辨率FWHM：對(duì)122 keV峰（Co-57）：≤ 1.4keV；對(duì)1.332 MeV峰（Co-60）：≤ 2.3keV；
● 能量響應(yīng)范圍：10 keV – 10 MeV；
● **大數(shù)據(jù)通過(guò)率：大于100kcps；
● 具有低頻噪聲抑制、自動(dòng)**優(yōu)化、自動(dòng)極零、零死時(shí)間校正和虛擬示波器等功能；
● 積分非線性：≤0.025%；微分非線性：≤1%；
● 數(shù)字化穩(wěn)譜器：由計(jì)算機(jī)控制并穩(wěn)定增益和零點(diǎn)；
● 溫度系數(shù)：增益：≤35ppm/C ，零點(diǎn)：≤3 ppm/C；
● 脈沖抗堆積：自動(dòng)設(shè)定域值，脈沖對(duì)分辨率為500 ns。
探測(cè)器：
GEM系列：P型同軸HPGe探測(cè)器
GMX系列：N型同軸HPGe探測(cè)器
GEM Profile系列：P型優(yōu)化同軸HPGe探測(cè)器
GWL系列：井型HPGe探測(cè)器
SGD系列：核保障與無(wú)損分析專用HPGe探測(cè)器
多道分析器：
高的數(shù)據(jù)通過(guò)率：大于100Kcps
數(shù)字化穩(wěn)譜、數(shù)字化自動(dòng)極零、自動(dòng)**優(yōu)化
用戶可預(yù)置多個(gè)核素的MDA，在所有MDA滿足時(shí)自動(dòng)終止計(jì)數(shù)
道數(shù)：16K道
非線性：積分非線性：≤ ±0.025%；微分非線性：≤ ±1%
溫度系數(shù)：增益:<35ppm/°C；零點(diǎn):<3 ppm/°C
軟件：
ORTEC的譜獲取軟件可識(shí)別并處理其所有形式和型號(hào)的MCA的信號(hào)，對(duì)于系統(tǒng)的一切參數(shù)設(shè)置在同一軟件界面下完成；有非常靈活、完整的報(bào)告生成方式。
具體的功能包括能譜獲取，能量刻度，峰識(shí)別，編輯核素峰庫(kù)，建立、存儲(chǔ)和打印感興趣區(qū)(ROI)，通過(guò)簡(jiǎn)單的“任務(wù)流”自動(dòng)執(zhí)行任務(wù)等。軟件可實(shí)現(xiàn)的參數(shù)設(shè)置包括：增益細(xì)調(diào)、啟動(dòng)數(shù)字化穩(wěn)譜、調(diào)節(jié)高壓、顯示實(shí)時(shí)間/活時(shí)間和脈沖寬度、設(shè)置上下甄別閾等。
