具體應用于:
1. 雙通道獨立使用,可同時進行兩組常規電化學測試;
2.雙通道組合使用,可用于電化學分析四電極工作體系,尤其在氧還原(ORR)中間產物收集、金屬氫擴散測試有廣泛應用。
技術優勢
CS2350H雙恒電位儀不僅具有CS單通道系列高精度、寬量程以及強大的數據分析處理功能,而且在原有產品的基礎上創新突破。 CS2350H國內的雙通道硬件設計可以實現兩組實現體系的測試要求,同時,軟件的組合編程功能大大提高了實驗的便利性。
典型案例:
1. 雙通道獨立測試
使用專用的電池測試夾,配合軟件的組合編程功能,給電池能源領域的用戶帶來更高效、更智能的測試體驗。

圖1.雙通道獨立測量參數設置界面


兩個恒電位裝置配合Devnathan-Stachurski 雙電解池,通過左側電解池的陰極充氫和右側電解的氫原子陽極氧化電流測量,進而計算氫原子在金屬中擴散系數和氫通量。

硬件參數指標
雙恒電位儀: 單恒電位電位控制范圍:±10V 雙恒電位儀電位控制范圍:±10V | 恒電流控制范圍:±2A |
電位控制精度:0.1%×滿量程讀數±1mV | 電流控制精度:0.1%×滿量程讀數 |
電位靈敏度:10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度:1pA |
電位上升時間:<1μs(<10mA),<10μs(<2A) | 電流量程:2A~2nA, 共10檔 |
參比電極輸入阻抗:1012Ω||20pF | 輸出電流:2A |
槽壓輸出:±21V | 電流掃描增量:1mA @1A/mS |
CV和LSV掃描速度:0.001mV~10,000V/s | 電位掃描電位增量:0.076mV @1V/mS |
CA和CC脈沖寬度:0.0001~65,000s | DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s |
SWV頻率:0.001~100KHz | CV的最小電位增量:0.075mV |
AD數據采集:16bit@1MHz,20bit @1kHz | 電流與電位量程:自動設置 |
DA分辨率:16bit,建立時間:1μS | 低通濾波器 :8段可編程 |
通訊接口:網口 | 儀器凈重:7.5Kg |
外形尺寸(cm):36.5(W)X30.5 (D)X16 (H) |
電化學阻抗測量參數
信號發生器 | |
頻率響應:10μHz~1MHz | 交流信號幅值:1mV~2500mV |
頻率精確度:0.005% | 信號分辨率:0.1Mv RMS |
直流偏壓:-10V~+10V | DDS輸出阻抗:50Ω |
波形:正弦波,三角波,方波 | 正弦波失真率:<1% |
掃描方式:對數/線性,增加/下降 | |
信號分析器 | |
積分時間:106個循環或者105S | 測量時間延遲:0~105秒 |
最小積分時間:10mS 或者一個循環的最長時間 | |
直流偏置補償 | |
電位補償范圍:-10V~+10V | 電流補償范圍:-1A~+1A |
帶寬調整:自動或手動設置, 共8級可調 |
配置:
1)儀器主機1臺
2)CS Studio測試與分析軟件1套
3)模擬電解池1個
4)電源線、網線各1條
5)電極電纜線2條
6)屏蔽箱(選配*)
CS2350H雙恒電位儀功能方法
穩態極化開路電位測量(OCP)、恒電位極化(i-t曲線)、恒電流極化、動電位掃描(TAFEL曲線)、動電流掃描(DGP)
暫態極化
任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、恒電位階躍(VSTEP)、恒電流階躍(ISTEP)
計時分析
計時電位法(CP)、計時電流法(CA)、計時電量法(CC)
伏安分析
線性掃描伏安法(LSV)、線性循環伏安法(CV)、階梯循環伏安法(SCV)、方波伏安法(SWV)、差分脈沖伏安法(DPV)、常規脈沖伏安法(NPV)、常規差分脈沖伏安法(DNPV)、差分脈沖電流檢測法(DPA)、雙差分脈沖電流檢測法(DDPA)、三脈沖電流檢測法(TPA)、積分脈沖電流檢測法(IPAD)、交流伏安法(ACV)、二次諧波交流伏安(SHACV)、傅立葉變換交流伏安(FTACV)
溶出伏安
恒電位溶出伏安、線性溶出伏安、階梯溶出伏安、方波溶出伏安、差分脈沖溶出伏安、常規脈沖溶出伏安、常規差分脈沖溶出伏安、交流溶出伏安
交流阻抗
電化學阻抗(EIS)~頻率掃描、電化學阻抗(EIS)~時間掃描、電化學阻抗(EIS)~電位掃描(Mott-Schottky曲線)
腐蝕測量
循環極化曲線(CPP)、線性極化曲線(LPR)、動電位再活化法(EPR)、電化學噪聲(EN)、電偶腐蝕測量(ZRA)、氫擴散測試
電池測試
電池充放電測試、恒電流充放電、恒電位充放電、恒電位間歇滴定技術(PITT)、恒電流間歇滴定技術(GITT)
擴展測量
盤環電極測試、數字記錄儀、波形發生器、圓盤電機控制、其它外設擴展端口(定制)