| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,石油,地礦,交通,航天 |
多功能超聲波測厚儀CMXDL+
儀器特點
-100MHz FPGA時序電路設計
-可選彩色和灰度顯示屏
-A/B掃描
-手動調節(jié)增益和自動增益控制 (AGC)，范圍：110dB
-自動時間相關增益(TDG)
-多種測量模式
脈沖-回波(P-E)模式：測量材料厚度
脈沖-回波涂層(PECT)模式：同時測量材料和涂層厚度
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式：測量材料厚度
回波-回波(E-E)模式：穿過涂層測量材料厚度
回波-回波驗證(E-EV)模式： 穿過涂層測量材料厚度
測量涂層(CT)模式：只測量涂層厚度
-可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭)
-USB Type-C數(shù)據(jù)接口
-內置4GB SD存儲卡
多功能超聲波測厚儀CMXDL+技術參數(shù)
| 測量 | 測量范圍 | 脈沖-回波(P-E)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼) 脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼)，0.0254~2.54mm(涂層) 脈沖-回波溫度補償(PETP)模式 測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼) 回波-回波(E-E)模式測量范圍：2.54～152.4mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化) 回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍：2.54～102mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化) 測量涂層(CT)模式測量范圍：0.0127~2.54mm(涂層) |
| 單位 | 英制和公制 | |
| 分辨率 | 0.01mm | |
| 校準 | 一點和兩點校準方式 | |
| 聲速范圍 | 309.88～18542m/s | |
| 顯示 | 顯示屏 | 1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素。可視區(qū)62x45.7mm，EL背光；可選1/4英寸彩色顯示屏，320x240象素 |
| 大數(shù)字方式 | 標準厚度顯示，數(shù)字高度17.78mm/14.35mm(彩色顯示屏) | |
| A-掃描方式 | 檢波+/-(缺陷視場)，RF(全波視場)。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)。縱向和橫向視圖(彩色顯示屏) | |
| B-掃描方式 | 基于時間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個讀數(shù) | |
| 厚度條形掃描 | 速度10Hz，在B-掃描和大數(shù)字顯示中可見 | |
| 功能狀態(tài)指示 | 顯示當前激活的功能 | |
| 穩(wěn)定度指示 | 表示測量值的穩(wěn)定性 | |
| 超聲波參數(shù) | 測量模式 | P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT |
| 脈沖 | 可調方波脈沖發(fā)生器 | |
| 接收 | 根據(jù)選擇模式在110dB范圍內采用手動或AGC增益控制,阻抗50~1500Ω可調 | |
| 計時 | 單次100MHz8位超低功耗數(shù)字化儀的精確TCXO計時 脈沖重復頻率：250Hz |
| 探頭 | 頻率范圍：1~20MHz | |
| 雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式) | ||
| LEMO接口，1.2米探頭線 | ||
| 可定制用于特殊應用的探頭 | ||
| 存儲 | 容量 | 內置4GB SD卡 |
| 數(shù)據(jù)結構 | 網格(字母數(shù)字)和順序(自動識別) | |
| 截屏功能 | 位圖圖形捕獲，用于快速記錄 | |
| 數(shù)據(jù)輸出 | 通過USB Type-C連接的計算機 | |
| 功能 | 設置 | 64個用戶定義設置，用戶也可編輯出廠設置 |
| 探頭類型可選 | 內置雙路誤差校正，提高線性度 | |
| 閘門 | 兩個獨立閘門 | |
| 報警模式 | 上下限視聽報警 | |
| 快速掃描模式 | 每秒250個讀數(shù)，當探頭離開時顯示最小值 | |
| 鍵盤 | 12個觸摸鍵 | |
| 其他 | 電源 | 標配為三節(jié)5號堿性電池 ，可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無操作五分鐘后自動關機。USB Type-C供電。 |
| 重量 | 312g(含電池) | |
| 尺寸 | 131.3x63.5x31.5mm | |
| 操作溫度 | -30~75℃ | |
| 外殼 | 擠壓鋁機殼，底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝 | |
| 包裝 | ABS工程塑料箱 | |
雙晶探頭
| 雙晶探頭型號 | 頻率 | 探頭晶片直徑 | 探頭防磨面直徑 | 測量范圍 | 說明 |
| PT-102-2900 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0～152mm | 標準CT探頭(可測涂層厚度) |
| PT-101-2900 | 5.0MHz | 4.76mm | 6.35mm | 1.0～50mm | 小管徑CT探頭 |
| PT-102-3300 | 7.5MHz | 6.35mm | 9.53mm | 0.63～152mm | 超薄探頭 |
| PT-104-2900 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27～508mm | 超厚CT探頭 |
| PT-042-2000 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0～152mm | 標準高溫探頭，340℃ |
| PT-044-2000 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27～508mm | 超厚高溫探頭，340℃ |
| PT-212-2001 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0～152mm | 超厚超高溫探頭，480℃ |
| PT-214-2001 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27～508mm | 超高溫探頭，480℃ |
注：測試高溫表面時需用高溫耦合劑
單晶探頭
| 探頭型號 | 頻率 | 描述 | 說明 |
| PT-402-5507 | 15MHz | 晶片Ø6.35mm | 標準延遲塊探頭 |
| PT-402-6507 | 20MHz | 晶片Ø6.35mm | 延遲塊探頭 |
| PT-4903-2875 | 5MHz | 晶片Ø3.18mm，防磨面Ø6.35mm | 接觸式探頭 |
| PT-4903-4875 | 10MHz | 晶片Ø3.18mm，防磨面Ø6.35mm | 接觸式探頭 |
| PT-4023-2855 | 5MHz | 晶片Ø6.35mm，防磨面Ø9.53mm | 接觸式探頭 |
| PT-4023-4855 | 10MHz | 晶片Ø6.35mm，防磨面Ø9.53mm | 接觸式探頭 |
| PT-481-4507 | 10MHz | 延遲塊前端Ø1.59mm | 筆式探頭 |
