本儀器是在濾波輪廓和直接輪廓兩種輪廓上進行參數計算的,全部計算符合 GB / T 3505-2009《產品幾何技術規范( GPS )、表面結構、輪廓法、術語、定義及表面結構參數》標準。
◆可測量粗糙度、波紋度和原始輪廓參數并顯示圖形。
◆具有帶導頭、無導頭兩種測量方式。
◆傳感器與主機通過傳感器升降、架連接,無需借助平臺,即可調節傳感器高度。中/英文語言選擇
◆可通過工作站無線、有線靈活選擇操作。
型號 | ARX400+(400) | ||
量程 | X方向 | 50mm | |
Z方向 | 2000μm(標配1000μm) | ||
分辨率 | X方向 | 0.0016μm/±50μm -0.016μm/±1000μm | |
驅動器 | 直線度 | 0.8μm/50mm | |
測量誤差 | 無導頭測量 | <±10% | |
分析算法 | 對應標準 | JIS-82、JIS-87、JIS-94、JIS-01、JIS-13、ISO-84、ISO-97、DIN-90、ASME-95、GB-14 | |
參數 | R粗糙度輪廓 | Ra75、Rq、Rp、Rv、Rc、Rt、S、R3z、PPI、Ra、Rsk、Rku、Ry、Sm、RΔa、RΔq、Rz、Pc、Rλa、Rλq、lr、RSm、Rz94、RPc、RS、Rz.I、Rpm、HSC | |
W波紋度輪廓 | WCA、WCC-q、WCC-p、WCC-v、WCC-m、WCC-Sm、WCA、WC-q、WC-p、WC-v、WCM、WC-Sm、WC-t、Wa、Wq、Wsk、Wku、Wp、Wv、Wz、Wc、Wt、WSm、WΔq、WPc | ||
P原始輪廓 | Rsk、Rku、Rmax、Sm、Δa、Δq、Rz、λa、λq、lr、TILT A、AVH、Hmax、Hmin、AREA、Rz.J、Pa、Pq、Psk、Pku、Pp、Pv、Pc.I、Pt、PSm、PΔq、PPc、Pc | ||
支承率曲線 | Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、V0、K、A1、A2 | ||
圖形 | NCRX、AR、R、Rx、NR、CPM、SR、SAR、AW、W、Wx、Wte、NW、SW、SAW、Rke、Rpke、Rvke、Mr1、Mr2、V0、K | ||
評定曲線 | 粗糙度輪廓、波紋度輪廓、原始輪廓、支承率曲線、圖形 | ||
特征曲線 | 支承率曲線(Rmr(c)、Rmr2(c)、Rδc(c)、tp(c)、tp2(c)、Htp(c))、幅頻分析曲線、振幅分布曲線 | ||
形狀去除 | 全域、前半、后半、中心、2點、曲線 | ||
濾波器類型 | Gaussian、FFT、PC、DP、2RC | ||
濾止波長 | λs | 0、2.5、8、25μm | |
λc | 0.08、0.25、0.8、2.5、8mm | ||
λf | 0.8、2.5、8、25mm | ||
評定長度 | 取樣長度 × 取樣個數(取樣長度有標準模式與自定義模式) | ||
測量速度 | 0.05mm/s、0.10mm/s、0.50mm/s、1.00mm/s、2.00mm/s | ||
回程速度 | 0.05mm/s、0.10mm/s、0.50mm/s、1.00mm/s、2.00mm/s | ||
傳感器 | 型號 | 標準通用型 | |
傳感器方式 | 差動電感 | ||
量程 | 2000μm(標配1000μm) | ||
測針 | 5μmR金剛石90° | ||
測力 | 4-7.5mN可調 | ||
操作機 | 顯示部分 | 10寸彩色IPS觸摸屏 | |
數據輸出 | TF卡/U盤/WIFI打印 | ||
對應語言 | 中文 | ||
尺寸及質量 | 電源/消耗 | AC220V±10% 內置充電電池(AC變壓器充電) 充電時間8小時 | |
耗電量 | 約30VA(充滿電后可以測量500次) | ||
質量 | 干重3Kg 含包裝7Kg | ||
設置尺寸 | 執行器器80(W)*340(D)*175(H) 操作器 245(W)*162(D)*68(H) |


