• 可靠、可重復地測量寬帶隙（SiC、GaN）功率半導體動態特征
• 測量的特征包括開啟、關閉、開關切換、反向恢復、柵極電荷以及其他許多特征
• 同時滿足被測器件和用戶對測試環境的要求
• 模塊化平臺可擴展、可升級，能夠對所有功率器件進行測試

作為現成的測量解決方案，PD1500A 可以對寬帶隙半導體進行可靠且可重復的測量。該平臺不僅可以確保用戶的安全性，還能夠保護系統的測量硬件。

這種確保 DPT 結果可重復的能力依托于是德科技*的專業測量技術，例如在高頻測試（GHz 級）、低泄漏（飛安級）和脈沖功率（1,500 A 電流、10 μs 分辨率）等方面的創新。這些創新使是德科技占據優勢，可以有力地幫助您克服在動態功率半導體表征方面的挑戰。

PD1500A 采用的均是標準的測量技術，例如探頭補償、偏置調整、偏移校正和共模噪聲抑制。這些技術已在創新的測量拓撲和版圖中使用。另外，我們專門為本系統開發了半自動校準例程（AutoCal），用于校正系統增益和偏置誤差。該系統還使用去嵌入技術來補償分流器中的電感寄生效應。

JEDEC 是為微電子行業開發開放標準和出版物的。JEDEC 委員會在廣泛的技術領域著產業標準制定。

JEDEC 委員會：JC-70 寬帶隙電力電子轉換半導體

JEDEC 標準認識到為功率半導體行業制定 WBG 標準的需求十分迫切。2017 年 9 月，JC70 寬帶隙電力電子轉換半導體委員會成立，負責制定 GaN JC70.1 和 SiC JC-70.2 標準。每個領域都有三個任務組，專注于開發可靠性和鑒定程序、數據手冊元素和參數，以及測試和表征方法。

是德科技積極參與這些標準的開發工作。

隨著 JEDEC 繼續定義 WBG 器件的動態測試，某些標準化測試開始出現。Keysight PD1500A DPT 確定了這些關鍵性能參數：

• 開機特征
• 關機特征
• 動態導通電阻
• 動態電流和電壓
• 開關特征
• 反向恢復
• 柵極電荷
• 推導出的輸出特征