HAST高壓加速老化試驗箱廣泛應用于半導體、顯示面板、PCB、電子元器件等多個領域的環境可靠性測試。EHS系列提供了高可用性和多種性，以滿足 IEC60068-2-66 標準和其他國際標準，具有方便的功能和可用于偏壓測試的安全特性。適合大型試樣或大量小型試樣的試驗的大容量產品。
具備利用常規測試數據的控制功能,M/MD型有「干濕球溫度控制」、「不飽和控制」、「濕潤飽和控制」等三種模式。標準型具備有「不飽和控制」、「濕潤飽和控制」等兩種模式。
高壓加速老化試驗箱EHS系列采用獨自開發的干濕球溫度控制功能,滿足IEC60068-2-66規定的試驗裝置條件，可以進行規定的試驗。此外,EHS系列還滿足以下標準：
●IEC 60749-4（高加速應力試驗）
●ED-4701/100A(不飽和蒸汽加壓試驗)
●JESD22-A118（無偏壓高加速應力試驗）
●JESD22-A110E（高加速應力試驗）
●JESD22-A102E（無偏壓高壓蒸煮試驗）
●AEC-Q100 -版本H（偏壓高加速應力試驗 /無偏壓高加速應力試驗）
●JPCA-ET08（不飽和加壓蒸汽試驗）
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