本產(chǎn)品符合國(guó)標(biāo)GB/T 18043-2013對(duì)儀器分辨率的要求，EDX 3000采?Si-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器，遠(yuǎn)勝于正?計(jì)數(shù)探測(cè)器； 準(zhǔn)確?誤地分析??， 鉑?和K?飾品中?、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量。
性能特點(diǎn)
長(zhǎng)效穩(wěn)定光管
半導(dǎo)體硅針電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷
內(nèi)置?清晰攝像頭，?便??隨時(shí)觀測(cè)樣品
數(shù)字脈沖處理器，數(shù)據(jù)處理快速準(zhǔn)確
放?電路、?低壓電源
單樣品腔，?動(dòng)開關(guān)機(jī)蓋，操作安全、?便
三重安全保護(hù)模式
多變量?線性回歸程序
相互獨(dú)?的基體效應(yīng)校正模型
特別開發(fā)應(yīng)?軟件，操作界??分友好
應(yīng)用領(lǐng)域
質(zhì)檢中?
?銀珠寶?飾店
?飾加??
貴?屬冶煉?
典當(dāng)?
分析測(cè)試中?
貴?屬回收
