大功率半導體激光器老化測試系統解決方案

針對千瓦級大功率半導體激光器，普賽斯推出國產化極優性價比大功率半導體激光器芯片測試設備老化系統.設備可擴展至4層結構，每層設計若干路，每路支持1-16只激光器芯片的串聯老化。

圖：LDI系列大功率激光器老化測試系統

系統包括高溫環境控制裝置、直流或脈沖驅動電源、收光裝置、光纖、光譜儀(選配)、循環水冷系統、定制夾具、溫度采集器及上位機等.其中,電源采用普賽斯全新開發、自主設計的HCPL系列大功率激光器測試電源。

60A CW模式，600A QCW模式

值得一提的是,隨著國內半導體產業的不斷發展,以及行業解決“卡脖子”難題的決心,國產化儀器儀表的時代已然到來！武漢普賽斯儀表堅持自主創新，爭做國貨之光！大功率半導體激光器芯片測試設備老化系統認準普賽斯儀表

系統簡介

普賽斯多路大功率激光器老化系統是專為解決千瓦級大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發熱嚴重等問題而創新開發推出的一套通用性好、大功率、循環水冷的老化測試系統。產品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩定、抗干擾能力強，并具有防過沖、防反沖、抗浪涌的穩壓及恒流的雙重保護電路等功能，為大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊的老化測試提供了一個完整的解決方案，

器件裝載使用抽屜式結構，設備可以靈活擴展最高至4層結構，每層設計若干路，每路支持1-16只激光器的串聯老化。 普賽斯多路大功率激光器老化系統采用全新開發、自主設計的大電流脈沖恒流源，可以兼容CW模式以及QCW模式，支持直流恒流、直流掃描、脈沖直流、脈沖掃描等四種模式。該系統包括高溫環境控制裝置、直流或脈沖驅動電源、收光裝置、光纖、光譜儀（選配）、循環水冷系統、定制夾具、溫度采集器及上位機等。實現上位機程序進行自動測試，自動采集半導體激光器驅動電流、激光器電壓、激光器光功率、環境溫度。實現多單元、高效率、自動監控并記錄上傳測試數據的一體化測試系統。              

系統特點

單抽屜最多支持16路8抽屜；

各通道互相獨立；

電流回讀，同步自動測量電壓、光功率等數據；

加熱膜加熱，溫控范圍：室溫～125℃；

電源抗浪涌設計；

收光裝置水冷；

絕對精度±1℃，不同DUT溫度均勻性±2℃；

老化數據自動記錄與數據導出；

產品應用

大功率LED的LIV測試及產線批量老化

大功率激光器的LIV測試及產線批量老化

大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊的穩定性及可靠性測試