LE-SP-ES系列發(fā)射光譜測量系統(tǒng) Emission Spectrum Measurement System
LE-SP-ES-LEDS系列光譜分布和色坐標(biāo)測量系統(tǒng)
Spectral Measurement System for LED Light source
本系統(tǒng)是理歐光電LEOPTICS?的一套專門用于測試各種發(fā)光材料和器件（比如LED光源，燈泡等）的發(fā)射光譜分布和色坐標(biāo)的測量系統(tǒng)。這套系統(tǒng)覆蓋了200nm到1700nm光譜范圍，可以根據(jù)客戶需求進(jìn)行光譜范圍選擇。系統(tǒng)采用低雜散光和高通光效率分光光路設(shè)計，并集成了進(jìn)口高靈敏度CCD探測器和低噪聲信號采集系統(tǒng)，確保了光譜測量的靈敏度和準(zhǔn)確性，可以精確分析光源和輻射源的光譜特性，針對可見光的照明用途LED光源和燈泡等發(fā)光器件，可以測量色坐標(biāo)。并且可以升級測量光譜輻射照度。
產(chǎn)品功能和應(yīng)用Applications
□ 測試各種發(fā)光體，如白熾燈、溴鎢燈、熒光燈、LED、激光器、等離子體、原子發(fā)射、紅外光源等的發(fā)射光譜分布。
□ 測試各種光源的照度，亮度，光譜輻照度，光譜輻射亮度和色度
□ 光學(xué)測量和分析領(lǐng)域
□ 科研領(lǐng)域
□ 工業(yè)領(lǐng)域
□ 計量領(lǐng)域
□ 領(lǐng)域
主要規(guī)格及特色Features&Benefits
□ 被測光源的發(fā)光光譜范圍：200-1700nm(光譜范圍根據(jù)配置和要求選擇)
□ 本系統(tǒng)可以配套LE-SP-LED系列發(fā)光效率和色度測量系統(tǒng)使用，用于發(fā)光材料和器件的完整光量測參數(shù)測量。
□ 光譜測試系統(tǒng)由分光部分、探測部分、數(shù)據(jù)采集處理部分和軟件構(gòu)成
□ 專業(yè)優(yōu)化設(shè)計的系統(tǒng)光路，雜散光小，通光效率高
□ 可選積分球附件，專門用于精確測量色坐標(biāo)
□ 專業(yè)光譜分析和色坐標(biāo)測試軟件
□ 各種光譜波段優(yōu)化光柵可供不同用途需要進(jìn)行選擇
□ UV型采用紫外增強(qiáng)CCD技術(shù)
□ 超小體積，方便移動便攜
□ 高穩(wěn)定性光路結(jié)構(gòu)，免維護(hù)
□ 系統(tǒng)擴(kuò)展性好，方便客戶購買基本配置后進(jìn)行系統(tǒng)升級和功能擴(kuò)展
□ 可升級測試照度，亮度，光譜輻射照度，光譜輻射亮度，輻射通量，光通量，色坐標(biāo)等
□ 全自動測量
□ 可選擇單獨某個功能模塊測試
軟件功能Professional Software
理歐光電LEOPTICS?專門設(shè)計的LESPSoft系列光譜和色坐標(biāo)測試軟件，可控制整套系統(tǒng)的自動光譜測量、色坐標(biāo)測量等，并且可將數(shù)據(jù)保存為軟件專有的數(shù)據(jù)格式，也可保存為常用的txt、excel、jpeg、gif等格式。
主要型號參數(shù)表格Datasheet Table
產(chǎn)品型號 | LE-SP-ES-LEDS211 | LE-SP-ES-LEDS817 | LE-SP-ES-LEDS311 | LE-SP-ES-LEDS49 | ||
光譜測試范圍 | 200~1100nm | 800~1700nm* | 380~1100nm | 400-900nm | ||
光譜分辨率 | 0.22~10nm（可選，根據(jù)不同配置決定） | 4.7~25nm（可選，根據(jù)不同配置決定） | 0.22~10nm（可選，根據(jù)不同配置決定） | 0.22~10nm（可選，根據(jù)不同配置決定） | ||
光柵 | 多種光柵可供選擇，具體參考后續(xù)光柵選擇表格 | |||||
狹縫尺寸 | 10μm，20μm，50μm，100μm，200μm （可選擇） | |||||
積分球 | 可選 | 可選 | 可選 | 可選 | ||
雜散光水平 | < 0.1% | < 0.1% | < 0.1% | < 0.1% | ||
陣列CCD | 2048pixels | 256pixels | 2048pixels | 2048pixels | ||
像素大小(um) | 14 x 56 | 50X500 | 14 x 56 | 14 x 56 | ||
制冷 | 可選 | TEC標(biāo)配 | 可選 | 可選 | ||
AD 轉(zhuǎn)換器 | 16bits | 16bits | 16bits | 16bits | ||
積分時間 | 1ms到 60s | 1ms到 60s | 1ms到 60s | 1ms到 60s | ||
暗噪聲 | 45RMS | ~ | 45RMS | 45RMS | ||
線性校正度 | >99% | >99% | >99% | >99% | ||
接口 | USB2.0 | USB2.0 | USB2.0 | USB2.0 | ||
觸發(fā)模式 | 可選擇 | 可選擇 | 可選擇 | 可選擇 | ||
輸出觸發(fā)口 | 3.3V/5V TTL 電平，時間精度0.066μs | 3.3V/5V TTL 電平，時間精度0.066μs | 3.3V/5V TTL 電平，時間精度0.066μs | 3.3V/5V TTL 電平，時間精度0.066μs | ||
電源要求 | 5VDC USB 電源 | 5VDC USB 電源 | 5VDC USB 電源 | 5VDC USB 電源 | ||
電源功耗 | 200mA，5VDC | 200mA，5VDC | 200mA，5VDC | 200mA，5VDC | ||
光纖連接 | SMA905接口 | SMA905接口 | SMA905接口 | SMA905接口 | ||
光纖芯徑 | 105um，200um，400um，600um，800um各種規(guī)格光纖（可選擇） | 105um，200um，400um，600um，800um各種規(guī)格光纖（可選擇） | 105um，200um，400um，600um，800um各種規(guī)格光纖（可選擇） | 105um，200um，400um，600um，800um各種規(guī)格光纖（可選擇） | ||
系統(tǒng)校正 | 支持 | 支持 | 支持 | 支持 | ||
參考標(biāo)準(zhǔn) | 中國或美國NIST | |||||
光譜輻照度測量功能模塊 | 可選 | 可選 | 可選 | 可選 | ||
色坐標(biāo)測試模塊 | 標(biāo)配 | 標(biāo)配 | 標(biāo)配 | 標(biāo)配 | ||
透射、反射光譜測試擴(kuò)展功能模塊 | 可選 | 可選 | 可選 | 可選 | ||
LE-SP-ES-LEDS系列光譜測量系統(tǒng)
備注：1,*可擴(kuò)展升級到800-2500nm光譜范圍
2,對于特殊要求，我公司可提供專業(yè)的整體解決方案，并提供系統(tǒng)定制。
光柵選擇Optional Gratings
產(chǎn)品型號 | 使用范圍 |
LE-G-S24 | 200-425nm |
LE-G-S25 | 200-535nm |
LE-G-S27 | 200-755nm |
LE-G-S29 | 240-900nm |
LE-G-S211 | 200-1100nm |
LE-G-S37 | 365-700nm |
LE-G-S39 | 380-960nm |
LE-G-S311 | 300-1100nm |
LE-G-S711 | 750-1100nm |
可選附件Optional Accessories
產(chǎn)品型號 | 規(guī)格 |
LE-SP-FB Series | 各種規(guī)格光纖 |
