GW-4040 XRF巖屑元素分析儀
GW-4040型XRF巖屑元素分析儀是利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。將Ｘ射線熒光分析（ＸＲＦ）用于巖屑錄井是目前巖屑分析中速的技術，這項技術的獨到之處在于：能過巖屑化學元素組合特征的分析來識別巖性，再通過巖性的組合特征分析來判斷層位．因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
- 測量內容：Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等
- 使用用途：油氣開采過程中的巖屑錄井檢測
產品特點
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性能
高性能
優選進口X射線管以及高性能探測器，確保長期的穩定性以及準確度。
快響應
相對于傳統的實驗室化驗等方式，光學檢測手段可以一秒內可以進行多次檢測。
長壽命
無需耗材，壽命最長可達5-8年，綜合使用成本更低。 -
便攜性
相對于傳統類的實驗室設備，我們的光學設備無需任何耗材以及輔助設備，方便在作業現場進行便攜使用。
為了更好的讓客戶在野外操作，設備還需抗震和牢固，我們首先給設備配備了拉桿式鋁合金包裝箱，讓運輸更安全。
其次整體光路模塊采用整體不銹鋼CNC一體加工，從來穩定性牢固性更好。 -
準確性
儀器集成了管壓檢測、溫度檢測，實時監控腔內的真空壓力和溫度，確保檢測的精度。
真空腔內置過濾隔離裝置，仿制待測體的灰塵進入探測器探頭和射線管端子，導致污染損壞。
內置步進電機使樣品環在檢測過程中始終處于旋轉狀態，提供檢測的準確度。
技術指標
| 分析元素 |
Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等 |
| 探測下限 |
Al、Si、P、S、Ca：0.01% Ti、V、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn：0.001%
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| 分析范圍 | 0.0001％-99% |
| 能量范圍 | 1-30keV |
| 采樣時間 | <180s |
| 重復性誤差 | ≤±1%F.S |
| 穩定性 | ≤±1%F.S |
| 輸出信號 |
RS-232&USB數字輸出 |
| 配件 | 真空泵+筆記本電腦+壓片機 |
| 外殼尺寸 | 355*250*380(長*寬*高) |
| 重量 | 36Kg |
*具體量程可能會有細微偏差。
*工作在溫度25℃和1013mbar測試數據。
技術原理
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技術原理
利用初級X射線光子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）。不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量可以對元素進行定性的分析；同時樣品受激發以后發射某一元素的特征X射線強度跟元素在樣品中的含量有關，因此可以對元素進行定量分析。 -
光學結構
分析儀由如下光學技術平臺構成，該技術平臺由X射線管、真空倉、探測器等光學組件構成。X射線管發出的光直接照射在待測樣品，激發待測物質中的原子，使之產生熒光，被探測器接收。通過對熒光譜線進行分析，可以分析出待測樣品中的元素成分和含量。 -
金屬元素的光譜
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。 -
巖屑成分
可一次性實現多達十幾種元素的快速、無損、準確分析。
自動穩譜，消除譜峰水可載舟漂移影響，精確度達98%以上。
集成大量數據庫，并實時更新，目前可以識別巖屑成分多達上百種。
應用領域
GW-4040型XRF巖屑元素分析儀，是本公司針對石油氣、天然氣、煤層氣、頁巖氣等清潔能源的開采而專門開發的高精度光學巖屑元素分析儀。可以很好的解決人工判斷的誤差性，以及傳統設備的不便捷性，更好了為測錄井提供原始數據。該設備小巧無輔助設備，目前在油田得到廣大客戶的使用。
產品主要用于以下場合：
● 油氣鉆井巖屑錄井；
● 物探巖石檢測等。 
產品主要用于以下場合：
● 油氣鉆井巖屑錄井；
● 物探巖石檢測等。
