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250μm 微區(qū)分布成像分析功能!

X R F -1500j1700 系列 X射線熒光光譜儀在世界上首先開發(fā)出微區(qū)分析·分布分析功能，并采用了4KW薄窗X射線管，擴大了X射線熒光分析的應用領域，作為具有革命性的儀器而得到了很高評價，業(yè)己銷售 200 余臺。

XRF-1800 對儀器硬件與軟件的許多細節(jié)都進行了改進，進一步提高了儀器的可靠性與可操作性，新增了250μm 微區(qū)分布成像分析功能，從而達到更高水平的程度。

掃描型X射線熒光光譜儀XRF-1800特點

1、用波長色散型 XRF 在世界上首先實現(xiàn)了 250μm微區(qū)分布分析 ( 如選購 CCD 攝像頭可以直接觀察樣品)

2、利用高次線解析可以進行準確的定性·定量分析

3、配置有高分子薄膜的膜厚測定與無機成分分析的背景基本參數(shù)法 (FP)

4、既美觀又節(jié)省空間的整機設計(數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)、X 射線管冷卻水裝置、真空泵、X 射線管高壓電源等全一體化)

5、配置高可靠性、長壽命的 4KW 薄窗 X 射線管

6、快速、安全、性能可靠而實用的運送樣品系統(tǒng)

7、XRF-1800具有集成島津公司實踐知識于一體的模塊功能和匹配功能

8、具有多功能而易操作的軟件

應用領域

1、電子·磁性材料

半導體、光磁盤、磁性材料、電池、線路板、電容器等

2、化學工業(yè)

無機·有機制品、化學纖維、催化劑、涂料、顏料、藥品、化妝品、洗滌劑、橡膠、調(diào)色劑等

3、石油·煤炭

石油、重油、潤滑油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等

4、陶瓷·水泥

水泥、水泥原料、陶瓷、熟料、石灰石、高嶺土、粘土、玻璃、耐火材料、巖石等

5、鋼鐵

生鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金鋼、爐渣、鐵礦石、鐵合金、特種鋼、表面處理鋼板、電鍍液、鑄造砂等

6、有色金屬

銅合金、鋁合金、鉛合金、缽合金、鎮(zhèn)合金、鑲合金、鐵合金、貴金屬等

7、環(huán)境

工廠廢水、海水、河水、大氣粉塵、工業(yè)廢物等

8、農(nóng)業(yè)

食品 土壤、肥料、植物、食品等

9、紙張

紙漿 涂布紙、滑石、調(diào)色劑、墨水等

10、地質(zhì)·礦產(chǎn)

巖礦、土壤、鐵礦石、有色金屬礦石、鋁磯土、稀土礦石等

250μm 微區(qū)分布成像分析功能

·利用 CCD 攝像頭可以直接觀察樣品(選購件)

·用500μm 光闌和和數(shù)字處理數(shù)據(jù)的顯示，可以實現(xiàn) 250μm 微區(qū)圖像顯示。 與 CCD 攝像頭相組合，可得到更加確定的分析結(jié)果。

微區(qū)分析

1994年，本公司在傳統(tǒng)的10-30mm大面積測量、分析平均含量的性能(功能)優(yōu)異的光譜儀中，添加了微區(qū)分析功能，并推出了具有微區(qū)分析功能的XRF-1700光譜儀。

XRF-1800是XRF-1700升級產(chǎn)品，在性能和功能方面均有改進，其最小分析直徑可達500μm(顯示直徑 250μm)。

微區(qū)分析系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

獨自開發(fā)的特殊形狀的滑動式視野限制光闌，利用 r 方向滑動與樣品旋轉(zhuǎn)控制的。轉(zhuǎn)動，可以在30mm直徑內(nèi)的任意位置進行分析。

分析位置的方法

根據(jù)微區(qū)分析刻度盤(標準附件)與CRT畫面，任意位置。 另外還可以根據(jù)CCD攝像頭(選購件)的樣品畫面分析位置。

位置畫面

用鼠標30mm圓內(nèi)的點或者用數(shù)值輸入其位置

微區(qū)分析刻度盤

對準樣品容器，確定測定位置

應用實例

元素分布成像分析

用250μm 束斑顯示，便于數(shù)據(jù)對比。應用于不均勻樣品的含量分布和強度分布分析。

樣品是稀土元素礦物(Bastnasite)。 紅色圓圈為30mm直徑的分布分析范圍。

La 與 Ce 具有相同的分布，而 Ca 與 Ba 分別具有不同的分布。 因此，判斷此樣品至少含有 3 種礦物。

利用高次語線的定性·定量分析

·可以同時測定常規(guī)的 1 次譜線與高次譜線的譜峰。

·高次譜線的判定更加準確，可以提高定性·定量分析的準確度與可靠性。

·用脫機數(shù)據(jù)處理，1 次譜線與高次譜線可以交替顯示，也可以兩者重迭顯示。 這樣高次譜線的影響就一目了然。

測定高分子薄膜的膜厚與無機成分分析的背景基本參數(shù) (FP) 法

·高分子薄膜分析中，利用康普頓散射線的理論強度作為高分子薄膜的信息。

·利用康普頓散射 / 瑞利散射的強度比計算出熒光 X 射線分析不能得到的氫(H)元素的信息。

傳統(tǒng)的基本參數(shù)(FP)法只計算 X 射線熒光(凈峰) 的強度，而背景基本參數(shù)(F P)法增加了散射 X 射 線(背景)強度的計算。 對于高分子薄膜樣品，計算散射 X 射線之一的 R h K α 康普頓散射的 X 射線強度就可以測定高分子薄 膜的厚度，這是因為康普頓散射的強度與樣品的密 度成反比，且與薄膜的厚度成正比。

基本性能

· LAB CENTER 是根據(jù)理論計算新設計的光學系統(tǒng)，所以大幅度提高了靈敏度。另外，晶體交換與測角儀等多個硬 件同時控制，達到快速運行。這種基本性能，充分滿足各行各業(yè)用戶的要求。

4KW 薄窗 X 射線管

配置有平均壽命5年以上的高可靠性的X射線管。 與傳統(tǒng)3KW的X射線管比較，輕元素的分析靈敏度提高 2 倍以上。

·島津開發(fā)的 4KW 薄窗 X 射線管與大電流 140mA 的 X 射線發(fā)生 器作為標準配置，全元素的分析靈敏度明顯提高。

·特別是Be等超輕元素的分析靈敏度有飛躍的提高(約 2 倍)。

·使用 RhjCr 等雙靶 X 射線管(選購件)，可以提高 Ti、Cl、Rh、 Ag 等元素分析的靈敏度。

5 位一次 X 射線濾光片交換機構(gòu)

5 種一次X射線濾光片作為標準配置，降低由X射線管產(chǎn)生的特征X射線、連續(xù)X射線、雜散線的散射線，可進行微量元素分析。

預抽真空·放氣速度的高速 j 低速切換

·有利于容易破損的粉末樣品與薄膜分析

真空度穩(wěn)定機構(gòu)

·為了改善輕元素的重現(xiàn)性，配置有真空度穩(wěn)定機構(gòu)。此機構(gòu) 本公司在世界上首先在多道 X 射線熒光光譜分析裝置上開發(fā)， 并投入實際應用的。

可以進行He·N2 置換(選購件)

·用于液體樣品分析。

·新開發(fā)的置換機構(gòu)，可能快速準確地氣氛置換。

新設計的光學系統(tǒng)

· X 射線管與樣品的距離，以及樣品與視野限制光闌及次級準 直器的距離都縮短，因此全元素的分析靈敏度提高約 2 倍(本 公司自比)。

高精度的溫度調(diào)節(jié)機構(gòu)

·利用高精度的溫度調(diào)節(jié)機構(gòu)，裝置內(nèi)溫度控制在 35:t0.1C

原理·結(jié)構(gòu)

當 X 射線管發(fā)射的 X 射線照射樣品時，從樣品中所含元素的 原子就產(chǎn)生新的 X 射線發(fā)射到樣品表面外，這種具有元素特 征波長的 X 射線稱為熒光 X 線。因此，通過檢測這種 X 射線的波長可以進行定性分析。另外，因為熒光 X 射線的強度與 元素的濃度成正比，檢測每個元素的熒光 X 射線特征強度可 以進行定量分析。

·在分析高含量時，計數(shù)率超過計數(shù)線性范圍，將靈敏度衰減 約 1/10。

可靠實用的樣品運送系統(tǒng)

一一永無裝卸故障的，島津獨自研制的搖營機械手方式 一

·粉末樣品萬一破損時，只在預抽真空室中酒落，而不會污染處于真空中的分析室

·只要把預抽真空室返回到放置樣品的一側(cè)，即使儀器處于通電狀態(tài)，也能清掃預抽真空室。

長期穩(wěn)定性好，充分發(fā)揮 X 射線管

性能的檢測器和計數(shù)電路系統(tǒng)

·配置有高精度氣體密度穩(wěn)定器，檢測器的氣體流量很小，檢測器和計數(shù)電路系統(tǒng)的長期穩(wěn)定性好。

·自動靈敏度控制(ASC)功能，在微量元素到主成分分析中，可使 4KW 薄窗 X 射線管充分發(fā)揮其性能。

用高速掃描(300 /min)功能進行簡單·快速的定性定量分析

·用簡單的操作，可以在短時間內(nèi)得到分析結(jié)果。

樣品分析過程

·用簡單的操作，可以進行全元素(Be-U)的定性分析和利用 無標樣 FP 法的定量分析。

* 分析 Be - N 時，要使用選購的分光晶體

簡單分析 用鼠標樣品旋轉(zhuǎn)臺的樣品位置進行分析。 進行全元素的定性和 FP 法的定量分析。

根據(jù)化合物形態(tài)，樣品形態(tài)及分析時間，選擇分析條件。

高速定性·定量分析

·利用高速定性分析功能(300。jmin)只需 2.5min 就可以完成 Be-U 的定性分析，以及 FP 法的定量分析。