內置飛機構件的探傷工藝與探傷專家系統

檢測小部件具有*的分辨力

軍內成果二等獎，指令裝備*、海航、陸航檢測儀

KK30性能特點

操作界面：采用人機對話（全中文）方式，使用功能顯示窗，進行菜單式操作，使之現代化，實用化。

操作菜單：開機后儀器即顯示飛機機型菜單，選擇機型后，自動進入部件菜單，確認部件后，自動顯示該部件的探傷方法示意圖，并配以探傷說明，然后儀器自動進入被確認的探傷工藝狀態，探傷即可開始。

探傷工藝：以軟件形式把飛機結構部件探傷部位的探傷工藝固化在儀器中，探傷時，儀器自動調出使用。

探傷智能：開機后，儀器提示操作者對飛機機型、探傷部位、探頭型號、掃查方式等逐一選擇確認，儀器即可自動調出相應的探傷工藝，探傷人員只需按程序引導進入探傷作業，不必對照工藝調節儀器各參數，因此儀器具有較強的探傷智能。

頻譜分析：用FFT分析回波頻譜分布，讀出反射波的中心頻率和帶寬，并能進行頻譜比較，分析探頭特性和缺陷性質。

曲線補償：以設置或實測的距離波幅曲線為基準測量回波當量大小。

射頻擴展：對閘門內的回波以射頻方式擴展顯示出來。

系統校準：對聲速、入射零點、探頭前沿、折射角度、距離波幅曲線等參數進行校準測量或參數設置。

峰值搜索：能保留閘門內掃查到的大傷波。

峰值包絡：能保留回波峰值運動軌跡。

平均降噪：采用數字信號處理技術，能將回波多次疊加，降低隨機噪聲，抵抗外部電磁場干擾。

檢波方式：正半波、負半波、全波檢波及射頻回波。

存儲容量：可存儲和回放1000幅以上數據波形圖象。

EL顯示：采用能滿足寬溫、抗振、寬視角，高亮度、高對比度的電致發光平板顯示器，快速響應，實時、清晰、穩定地顯示波形、菜單或定位數值，且無需背光，內外場使用均具有良好的可視度。

數據通信：可通過標準RS232通訊接口與計算機通信，進行波形、圖表、文件的相互傳輸，實現探傷結果的計算機管理。

便攜實用：交直流一體電源，儀器能在電池電源供電下連續工作6小時以上，且體積小、重量輕、功耗低、小型輕便，適合外場探傷使用。

KK30技術參數

工作方式：單晶探傷、雙晶探傷

掃描范圍：零界面入射～  4500mm鋼縱波

采樣頻率/位數：40MHz/8bits

檢波方式: 全檢波、正、負檢波、射頻波顯示

工作頻率: 2MHz ～ 7.5MHz

平均電噪聲電平: ≤ 15%（滿刻度）

增益調節: 119.5dB（0.5dB步進，自動調節）

聲速范圍: （1000 ～ 9999）m/s

動態范圍: ≥ 28dB

垂直線性誤差: ≤ 4%

水平線性誤差: ≤ 1%

分辨力: ＞28dB（2.5P20）

靈敏度余量: ＞60dB（深200mmΦ2平底孔）

數字抑制: （0 ～ 80）%，不影響線形與增益

電源、電壓: 直流（DC）27V±10%；交流（AC）220V±10%

工作時間: 連續工作5小時以上（鋰電池供電）

環境溫度: （-25 ～ 50）℃（參考值）

相對濕度: （20 ～ 95）% RH

外型尺寸: 300 x 265 x 125（mm）