LA-S植物圖像分析儀系統（年輪、葉分析組合版）
一 用途
用于植物葉面積分析、病斑面積分析、蟲損葉面積分析、葉色分檔分析、年輪分析等
二 特點
l 封閉/半封閉式掃描、無直射強光干擾
l 可全自動地大批量分析計算葉面積，并以葉片目標邊緣標記來核對其正確性
l 可同時分析多張葉片面積，及分析小至1mm2的葉片
l 圖像可放大縮小和局部觀察，可實現鼠標區域選擇統計、對污染區的輔助裁剪或橡皮擦修正。
l 監視和修正植物對象分析的精度
l 根據尺寸等方面的區別，進行自動雜質剔除
l 自帶標定功能，實現半自動的尺寸標定，XY向可分別標定修正
l 具有跟隨放大鏡功能，通過鼠標拖動精確測量
l 圖像（可保留原圖/結果圖）和全部分析結果以數據庫存儲
l 按日期、編號等自動搜索查詢，查詢結果以圖像和數據庫形式顯示
l 統計分析結果能以Excel表、Word文檔、PDF文檔導出，并自動形成總報表輸出
三 功能
1）葉分析測量參數
l 葉面積 (可累計面積)、葉片面積（可累計面積)、葉子穿孔面積 (可累計面積)、葉片長度和寬度、葉柄長度、葉周長 (不受葉片孔洞影響)、葉片周長、葉片長寬比、葉片形狀系數、自定義長度和角度測量，葉片鋸齒高度、寬度、數量測量，葉孔面積測量；
l 包膜（齒-齒之間的直線長度和），包膜形成的投影面積
l 不規則葉片形態分析，真彩的病斑、蟲損面積分析（含2/3以上葉片被嚴重蟲損的蟲損葉面積分析），葉片顏色分檔分析(包括按葉片顏色自動分檔查詢，用于氮肥狀態的外觀評價)
l 同時分析多片葉時，可得到葉片總面積、周長等參數，也可得到其中每一片葉片的周長、面積等參數
2）植物年輪測量分析
l 可自動判讀年輪數、各年輪平均寬度、早材及晚材寬度、各年輪切向角度和面積。可自動劃分出年輪邊界、早材邊界、晚材邊界，以及識別出很窄的樹輪，可交互刪除偽年輪、插入斷年輪，可自動生成分析年表
l 可以直接分析達到2萬萬像素（2億像素）的超高精度掃描的超大幅面年輪圖像。
l 具有【精細】分析選項，可自動分析出≤
四 基本技術指標
l 光學分辨率4800×9600、A4加長的Microtek ScanMaker i800雙光源彩色掃描
l 掃描葉面積、年輪的反射稿為A4加長幅面（35.6 cm×21.6 cm），掃描X光膠片面積30 cm×20 cm，最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm
l 圖像分析測量精度（由掃描儀決定，可軟件部分校正）：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；長度測量重現性誤差<±0.25%；面積測量重現性誤差<±0.25%；臺間測量差異<±0.25%。測量總時間：30~60秒
l 為在野外便攜分析，加配光學分辨率9600×9600 dpi的CanoScan LiDE
l 用戶需另配電腦
五 產地 中國
